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G01R　電気的な変数を測定すること；磁気変数を測定すること(電気的な変数への転換によって、いかなる種類の物理的な変数を測定すること、注を参照(4)クラスG01の表題に続くこと、電界のイオンの測定拡散、例えば電気泳動、電気浸透G01N；電気的であるか磁気方法を用いて材料の非電気的であるか非磁気特性を調査することG01N；共振回路の正しいチューニングを示すことH03J 3/12；監視電子パルスカウンタH03K 21/40；コミュニケーションシステムのモニタリング動作H04)

G01R 1/00 計測器の詳細またはグループの中に含まれるタイプの配列G01R 5/00 to G01R 13/00 そして、G01R 31/00(特定の構成的な詳細ために{電気機械である}電気的な消費を測定するための配置G01R 11/02)

G01R 1/02 ・一般の構造上の詳細(特別に特定の変数に適応しない測定配置に適用できる種類の詳細G01D 7/00)

G01R 1/025 ・・{専用のユーザ・インタフェースに関すること、例えばGUI、または専用のキーボード(G01R 31/31912 優位をとる)}

G01R 1/04 ・・ハウジング、支持部材、端末の装置（"バーンイン"態様G01R 31/286；端末H01R；端子板または板H02B；電気装置用のハウジングH05K )

G01R 1/0408 ・・・{試験備品または接触分野；コネクタまたは接続アダプタ；試験切り抜き；テストソケット(G01R 1/067 優位をとる；システムを試験している大量生産G01R 31/01；接続のテストG01R 31/04；印刷回路基板を試験するためのG01R 31/2808)}

G01R 1/0416 ・・・・{コネクタ、端末(G01R 1/0425 そして、G01R 1/0433 優位をとる；電池ポールのための測定機能を有するG01R 31/36V9P；一般にH01R)}

G01R 1/0425 ・・・・{試験切り抜き、例えばICののための}

G01R 1/0433 ・・・・{ICのまたはトランジスタ用のソケット}

G01R 1/0441 ・・・・・{詳細}

G01R 1/045 ・・・・・・{ＲｆまたはHFテストのためのソケットまたは構成素子備品}

G01R 1/0458 ・・・・・・{環境態様に関する、例えば温度}

G01R 1/0466 ・・・・・・{接触部分または機械の詳細に関すること、例えばヒンジまたはカム；遮へい}

G01R 1/0475 ・・・・・{タブICののための}

G01R 1/0483 ・・・・・{マトリックス・タイプ接触分野を有する無鉛ICののためのソケット、例えばBGAまたはPGA装置；unpackagedのためのソケット、裸のチップ(端だけ周辺に位置を接続することに関するICののためのG01R 1/0433)}

G01R 1/0491 ・・・・{ウェーハ上の集積回路を試験するための、例えばウェーハ-レベル試験カートリッジ}

G01R 1/06 ・・測定リード；測定調査(G01R 19/145, G01R 19/165 優位をとる；リードのための端部分H01R 11/00)

G01R 1/067 ・・・測定調査{(プラグ、ソケットまたは切り抜きG01R 1/0408；接続のテストG01R 31/04；調査設計が基本的特徴でないときに、ICのを接触させることは目的を試験するG01R 31/2886；調査として放射線ビームを使用することG01R 31/302；調査に、ここを終端として接続している導線のための端部分H01R 11/18)}

G01R 1/06705 ・・・・{保持であるか可動一つの探測機用の装置(試験の下に多数のプローブヘッドまたはICを動かすためのG01R 31/2886)}

G01R 1/06711 ・・・・{プローブ針、カンチレバーは、放射する、"衝突"接触；入れ替え可能な調査ピン}

G01R 1/06716 ・・・・・{ゴム}

G01R 1/06722 ・・・・・・{ばね式である}

G01R 1/06727 ・・・・・・{カンチレバービーム}

G01R 1/06733 ・・・・・{幾何学態様(G01R 1/06727 優位をとる)}

G01R 1/06738 ・・・・・・{チップ部に関する}

G01R 1/06744 ・・・・・・{マイクロプローブ、すなわちIC詳細としての寸法を有する}

G01R 1/0675 ・・・・・・{針のようである}

G01R 1/06755 ・・・・・{物質的な態様}

G01R 1/06761 ・・・・・・{層に関する}

G01R 1/06766 ・・・・{そのための入力回路}

G01R 1/06772 ・・・・{高周波調査}

G01R 1/06777 ・・・・{高電圧プローブ}

G01R 1/06783 ・・・・{上記は、液体を含む}

G01R 1/06788 ・・・・{携帯であるか手を操られた探測機、例えばオシロスコープのためのまたは携帯用のテスト用計測器のための(調査に、ここを終端として接続している端部分H01R 11/18)}

G01R 1/06794 ・・・・{いつの調査が接触しているかについて感知する装置、または接触させる位置の、測定された目的を有する}

G01R 1/07 ・・・・非連絡をとっている調査{(DUTを有する無線インタフェースG01R 31/3025)}

G01R 1/071 ・・・・・{上記は、電気光学素子を含む}

G01R 1/072 ・・・・・{上記は、イオン化されたガスを含む}

G01R 1/073 ・・・・多数の調査{(G01R 1/06783, G01R 1/06794, G01R 1/071, G01R 1/072 優位をとる)}

G01R 1/07307 ・・・・・{個々のプローブエレメントを有する、例えば針、カンチレバービームまたは衝突接触、各々に関して固定して、例えば釘取付け具または調査カードの下面}

G01R 1/07314 ・・・・・・{試験目的に対して垂直な調査の量、例えば剛性支保上の衝突接触を有する釘または調査の台（弾力的なサポートに、例えばフィルム、 G01R 1/0735)}

G01R 1/07321 ・・・・・・・{異なる長さの中である調査}

G01R 1/07328 ・・・・・・・{印刷回路基板を試験するための}

G01R 1/07335 ・・・・・・・・{両面に接触させるためのまたは表層搭載の装置を有する試験基板のための(SMDの)}

G01R 1/07342 ・・・・・・{試験目的に対して垂直であるより、別の角度である調査の量、例えば探測機カード}

G01R 1/0735 ・・・・・・{可撓性フレームまたはフィルムに配列される}

G01R 1/07357 ・・・・・・{可撓性体を有する、例えばバックリングは、放射する}

G01R 1/07364 ・・・・・・{位置を変えることに対する準備を有する、プローブ先端部の数または接続；ピッチの違いに適応すること}

G01R 1/07371 ・・・・・・・{調査が通過する開口を有するインタメディエイトカードまたはバック・カードを使用すること}

G01R 1/07378 ・・・・・・・{中間のアダプタを使用すること、例えばスペース変形部(G01R 1/07371 優位をとる)}

G01R 1/07385 ・・・・・・・{プローブ先端部および試験台の間で信号のスイッチングを使用すること、すなわちそのターンの検査器につながる標準の接触マトリックス}

G01R 1/07392 ・・・・・{個々に各々のプローブエレメントまたは先端を操ること}

G01R 1/08 ・・ポインタ；目盛り；スケール照明

G01R 1/10 ・・ベアリングの配置(ベアリング一般にF16C)

G01R 1/12 ・・・細片または導線ベアリングの

G01R 1/14 ・・制動配置；ダンプ準備

G01R 1/16 ・・磁石(一般にH01F)

G01R 1/18 ・・電気的であるか磁気分野に対するふるい分け配置、例えば地球の分野に対して{(測定遮へい効率H05K 9/0069)}

G01R 1/20 ・電気計器に用いられる基本的電気素子の変更態様；この種の計測器を有するこの種の素子の構造上の組合せ(計測器変成器それ自体H01F 38/20)

G01R 1/203 ・・{電気的に測定するために使用するレジスタ例えば10年レジスタ標準、コンパレータのためのレジスタ、直列抵抗、短絡(レジスタ一般にH01C；マイクロ波または電波終了H01P 1/26；連結装置H01R)}

G01R 1/206 ・・{計器の接続または測定荷重に対する電気モータ用のスイッチ(スイッチ一般にH01H)}

G01R 1/22 ・・現在のtranformersの二次巻線として作用しているはし検査器(トランスを使用している電圧または現在の隔離G01R 15/18)

G01R 1/24 ・・伝送線、例えば断面を測定して、導波管例えば溝付き断面

G01R 1/26 ・・・探測機の線形移動を有する

G01R 1/28 ・参照値のための計器の供給、例えば標準電圧、標準の波形

G01R 1/30 ・基本的電子回路を有する電気計器の構造上の組合せ、例えばアンプを有する

G01R 1/36 ・電気計器のための過負荷保護配置または回路(一般にH02H)

G01R 1/38 ・示している特徴を変えるための配置、例えばエアギャップを修正することによって{(回路G01R 15/005)}

G01R 1/40 ・最大または最小限の値が時間間隔において、手を伸ばしたことを示す計測器の変更態様、例えば最大のインジケータ・ポインタによって

G01R 1/42 ・・熱的に、操作される

G01R 1/44 ・温度補償に対する手段の変更態様{(そのとき、測定電流または電圧G01R 19/32)}

G01R 3/00 装置または方法は、製造のために特別に適応した{または保守} 計器の、 {例えばプローブ先端部の}

G01R 5/00 単一の現在であるか単一の電圧を機械の置換に変換するための器具(振動検流計G01R 9/02)

G01R 5/02 ・可動コイル計測器

G01R 5/04 ・・コイルに外部の磁石を有する

G01R 5/06 ・・中心的な磁石を有する

G01R 5/08 ・・特別に広い角度屈折に適している；常軌を逸して枢支された移動コイルを有する

G01R 5/10 ・ストリング検流計

G01R 5/12 ・ループ検流計

G01R 5/14 ・可動鉄片計器

G01R 5/16 ・・枢支している磁石を有する

G01R 5/18 ・・枢支している柔らかい鉄を有する、例えば針検流計

G01R 5/20 ・誘導計測器例えばフェラーリ計測器

G01R 5/22 ・熱電気計測器(電流の測定効果的値またはthermoconvertersを使用している電圧G01R 19/03)

G01R 5/24 ・・一片または導線の伸びによって、またはガスまたは流体の展開により操作される

G01R 5/26 ・・二種の金属からなる素子の変形により操作される

G01R 5/28 ・静電計測器(放射線検出器と結合されるG01T； {受動的に可動電極15のない電位計/16B；測定静電界G01R 29/12；測定負担G01R 29/24})

G01R 5/30 ・・葉電位計

G01R 5/32 ・・導線電位計；針電位計

G01R 5/34 ・・四半部電位計

G01R 7/00 2つ以上の電流または電圧を単一の機械の置換に変換できる計測器(G01R 9/00 優位をとる)

G01R 7/02 ・合計または違いを形成するための

G01R 7/04 ・商を形成するための(抵抗を測定するためのG01R 27/08)

G01R 7/06 ・・可動鉄タイプ

G01R 7/08 ・・可動コイル型のタイプ、例えば交差したコイル・タイプ

G01R 7/10 ・・・2つ以上の移動コイルを有する

G01R 7/12 ・フォーミング（成形）製品のための

G01R 7/14 ・・可動鉄タイプ

G01R 7/16 ・・固定で可動コイルを有すること、すなわち張力計

G01R 7/18 ・・・鉄の中心的な磁気的に結合固定で可動コイルを有する

G01R 9/00 機械の反響を使用している計測器

G01R 9/02 ・振動検流計、例えば測定電流のための

G01R 9/04 ・振動しているリードを使用すること、例えば頻度を計量するための

G01R 9/06 ・・磁気的に、ドライブされる

G01R 9/08 ・・piezo-electricallyに、ドライブされる

G01R 11/00 電力の測定時間積分のための電気機械配置{すなわち電力量} または電流、例えば消費の({電力または電流の測定時間積分のための他の配置G01R 22/00；板、パネル、エネルギー・メーターのための机、 H02B 1/03}；電気的に推進された車両の電気的な消費をモニタすることB60L 3/00)

G01R 11/02 ・構造上の詳細(電気計器に一般に適用できるG01R 1/00)

G01R 11/04 ・・ハウジング；支持ラック；端末の配置

G01R 11/06 ・・誘導メーターの磁気回路

G01R 11/067 ・・・そのためのコイル

G01R 11/073 ・・・そのためのアーマチュア

G01R 11/09 ・・・・ディスク・アーマチュア

G01R 11/10 ・・制動磁石；ダンプ配置

G01R 11/12 ・・ベアリングの配置(ベアリング一般にF16C)

G01R 11/14 ・・・磁気救助を有する

G01R 11/16 ・・電気メーターの対抗力の改作

G01R 11/17 ・・エラーを補償すること；そのための手段を調整するかまたは調整すること

G01R 11/18 ・・・周囲条件における変化を補償すること

G01R 11/185 ・・・・温度補償

G01R 11/19 ・・・トルクを妨げることによって、生じるエラーを補償すること、例えば多相メーターの回動分野過失

G01R 11/20 ・・・誘導メーターにおける位相エラーを補償すること

G01R 11/21 ・・・電流のダンプ効果によって、生じるエラーを補償すること、例えばオーバーロード範囲の調整

G01R 11/22 ・・・調整トルク、例えば調節起動トルク、同等のトルクを得るための多相メーターの中で調整されること

G01R 11/23 ・・・摩擦によって、生じるエラーを補償すること、例えば明るい負荷範囲の調整

G01R 11/24 ・・不正な使用を避けるかまたは示すための準備{(ボルトの未許可の動作に対する処置、ナットまたはピンF16B 41/005；セキュリティ封止G09F 3/03；信号を送ることまたはアラーム回路の検出器を改竄することで予防することG08B 29/046)}

G01R 11/25 ・・誤りの示すかまたは信号を送るための準備(封止G09F 3/03；信号を送ることまたはアラーム回路の検出器を改竄するのを妨げることG08B 29/046)

G01R 11/30 ・機械‐電気のモーター・メーター

G01R 11/32 ・・ワット時メーター

G01R 11/34 ・・アンペア時メーター

G01R 11/36 ・誘導メーター、例えばフェラーリ・メーター(フェラーリ計測器G01R 5/20)

G01R 11/38 ・・単相の動作のための

G01R 11/40 ・・多相動作のための

G01R 11/42 ・・・そのための回路

G01R 11/46 ・電気的に作動された自動的なメーター；振動メーター；振り子メーター

G01R 11/465 ・・{振動メーター}

G01R 11/48 ・メーターは、本当であるか反動的な構成素子を測定するために特別に適応した；メーターは、見かけのエネルギーを測定するために特別に適応した

G01R 11/50 ・・本当の構成素子を測定するための

G01R 11/52 ・・反動的な構成素子を測定するための

G01R 11/54 ・・同時に以下の3つの変数のうちの少なくとも2つを計量するための：本当の構成素子、反動的な構成素子、見かけのエネルギー

G01R 11/56 ・特別な関税メーター(関税調量一般にG01D 4/00)

G01R 11/57 ・・マルチ率メーター(G01R 11/63 優位をとる)

G01R 11/58 ・・・そのための関税-スイッチング装置

G01R 11/60 ・・減算メーター；最大のまたは最小負荷時間を測定しているメーター

G01R 11/63 ・・過度に消費メーター、例えば消費を測定する力の予め定められたレベルが上回られると共に、

G01R 11/64 ・・最大メートル、例えば期間の間の関税は、その期間以内で最大の要求に基づく

G01R 11/66 ・・・回路

G01R 13/00 電気的な変数または波形を示すための準備(機械の置換だけによる表示G01R 5/00, G01R 7/00, G01R 9/00；記録周波数スペクトルG01R 23/18)

G01R 13/02 ・ディジタルの形の測定された電気的な変数を示すための({LCDのまたはLEDのを使用することG01R 13/40}；カウンタG06M；アナログ/デジタル転換一般にH03M 1/00)

G01R 13/0209 ・・{数の形式の}

G01R 13/0218 ・・{そのための回路}

G01R 13/0227 ・・・{強度または表示の色を制御すること}

G01R 13/0236 ・・・{複数の変数の提出のための}

G01R 13/0245 ・・・{参照目印を嵌入するための}

G01R 13/0254 ・・・{起動するための、同期化}

G01R 13/0263 ・・・・{非再発する機能のための、例えば一時的現象}

G01R 13/0272 ・・・{サンプリングのための}

G01R 13/0281 ・・{電気光学素子を使用すること}

G01R 13/029 ・・{そのためのソフトウェア}

G01R 13/04 ・永続的な記録をもたらすための

G01R 13/06 ・・記録一時的な妨害のための変更態様例えば始まるかまたは記録媒体を加速することによって

G01R 13/08 ・・機械の直接の書込方法を使用している電気機械記録システム

G01R 13/10 ・・・脳卒中の長さによって、または点の位置によって、変数を表すことによる断続的な記録を有する

G01R 13/12 ・・化学記録、例えばclydonographs(G01R 13/14 優位をとる)

G01R 13/14 ・・感光材料上の記録

G01R 13/16 ・・磁気媒体上の記録

G01R 13/18 ・・・境界線置換を使用すること

G01R 13/20 ・オシロスコープ、｛CRTのより別のスクリーンを使用しているオシロスコープ、例えばLCDの； (ＣＲＴインジケータのための制御準備または回路G09G 1/00；陰極線管H01J 31/00)}

G01R 13/202 ・・{非電気器具、例えば目盛り、マスク(永続的なマークまたは参照を備えているCRT用の発光のスクリーンH01J 29/34；光学であるか光学的な配置は、CRT容器と組み合わさったH01J 29/89)}

G01R 13/204 ・・{永続的な登録を生成するための手段を用いて、例えば写真(光学であるか光学的な配置は、CRT容器と組み合わさったH01J 29/89)}

G01R 13/206 ・・{3-次元の代表を得るための装置（立体的なT.V。 H04N 13/00)}

G01R 13/208 ・・{C.R.オシロスコープで測定するための準備、例えばvectorscope}

G01R 13/22 ・・そのための回路（パルスを起こすための回路、例えばのこぎりの歯波形H03K 3/00)

G01R 13/225 ・・・{特にストレージオシロスコープのために構成される}

G01R 13/24 ・・・タイムベース屈折回路

G01R 13/245 ・・・・{1以上を生み出すための、スクリーン上の重なり合う時間間隔でない}

G01R 13/26 ・・・電子ビームの強度を制御するための回路{または表示の色}(輝度調整H01J 29/98)

G01R 13/28 ・・・複数の変数の同時であるか連続した提出のための回路(電子スイッチH03K 17/00)

G01R 13/30 ・・・挿入参照目印用の回路、例えばタイミングのための、調整するための、頻度採点のための

G01R 13/305 ・・・・{時間採点のための}

G01R 13/32 ・・・表示非再発する機能（例えば一時的現象）のための回路；起動するための回路；sychronisationのための回路；タイムベース展開のための回路

G01R 13/325 ・・・・{表示非再発する機能（例えば一時的現象）のための}

G01R 13/34 ・・・サンプリングによって、単一の波形を表すための回路、例えば超短波のための(サンプルおよび配置G11C 27/02)

G01R 13/342 ・・・・{周期的なh.f.を示すための。信号(G01R 13/345 優位をとる)}

G01R 13/345 ・・・・{専用マスタによって、デジタルプロセッサを用いてサンプル値信号を示すための

G01R 13/347 ・・・・{電気光学素子を使用すること}

G01R 13/36 ・グロー放電の長さを使用すること、例えばglowlightオシロスコープ(放電管H01J)

G01R 13/38 ・電気機械測定システムによって、光線の安定したか振動置き換えを使用すること(この種の測定システムそれ自体G01R 5/00, G01R 7/00, G01R 9/00)

G01R 13/40 ・一方光線の機械の置換より変調を使用すること、例えばそばにカー効果{(正しいチューニングの視覚の徴候H03J 3/14)}

G01R 13/401 ・・{連続アナログのための、またはシミュレーションされたアナログ、表示}

G01R 13/402 ・・・{作動中の、すなわち発光表示装置を使用すること、例えばエレクトロルミネセント・ディスプレイ(G01R 13/36 そして、G01R 13/42 優位をとる)}

G01R 13/403 ・・・{受動的な表示装置を使用すること、例えば液晶ディスプレイまたはカー効果表示装置}

G01R 13/404 ・・{不連続な表示のための、すなわち計数値の表示(アナログ/デジタル転換H03M 1/00)}

G01R 13/405 ・・・{複数の活動（すなわち軽く発すること）を使用すること例えば電子発光素子、すなわち棒グラフ}

G01R 13/406 ・・・・{点または単一の線によって、測定値を表すこと(G01R 13/408 優位をとる)}

G01R 13/407 ・・・{複数の受動的な表示素子を使用すること、例えば液晶またはカー効果表示素子(G01R 13/408 優位をとる)}

G01R 13/408 ・・・{測定値の2つか3つの次元の代表}

G01R 13/42 ・スパーク放電の長さを使用している計測器例えばスパークを生じるために電極の最大の分離を測定することによって

G01R 15/00 グループの中に提供されるタイプの測定配列の詳細G01R 17/00 to G01R 29/00 そして、G01R 33/00 to G01R 35/00(計測器の詳細G01R 1/00；過負荷保護配置G01R 1/36)

G01R 15/002 ・{測定範囲を変えるためのまたはmultitエステルのためのスイッチ}

G01R 15/005 ・{示している特徴を変えるための回路、例えばそれを非線形ようにすること}

G01R 15/007 ・・{ゼロサプレッションによって}

G01R 15/04 ・分圧器

G01R 15/06 ・・反動的な構成素子を有すること、例えば容量トランス{(そのとき、HVコンデンサ/センサは、このように本質的事項であるG01R 15/16)}

G01R 15/08 ・測定範囲を変えるための回路

G01R 15/09 ・・Autoranging回路

G01R 15/12 ・マルチ検査器｛すなわちマルチメータ｝用の回路例えば電圧を測定するための、電流、またはインピーダンス自由に

G01R 15/125 ・・{デジタル式複合メータのための}

G01R 15/14 ・電圧または現在の隔離を提供している改作、例えば高電圧のまたは高い流ネットワークのための(計測器変成器H01F 38/20；分圧器G01R 15/04； {他の変数に検知部材の生産高を換算するための手段G01D 5/00；可視信号を送っている配置または装置G08B 5/00；測定値のための動力伝達装置G08C 17/00, G08C 23/00})

G01R 15/142 ・・{グループにより適用されられる技術を使用しているいくつかのパラメータの同時測定のための配置G01R 15/14 to G01R 15/26}

G01R 15/144 ・・{他のサブグループにより適用されられない電圧のための配置を測定することG01R 15/14}

G01R 15/146 ・・{15/14の他のサブグループにより適用されられない電流のための測定配置、例えば現在のデバイダを使用すること、短絡、または電圧低下を測定すること(電圧隔離は、複雑にならないかどうかG01R 1/203 or G01R 19/0092)}

G01R 15/148 ・・・{磁場または電界を測定することが必要であること(G01R 15/18, G01R 15/20, G01R 15/24, G01R 15/26 優位をとる)}

G01R 15/16 ・・容量装置を使用すること{(分圧器を構成している回路G01R 15/06)}

G01R 15/165 ・・・{測定静電的な可能性、例えば静電電圧計または電位計を有する、センサの設計は、いつ重要か(受動的に可動電極を有する電位計G01R 5/28；測定静電界G01R 29/12；測定負担G01R 29/24；高い内部抵抗を有する回路において、測定することG01R 19/0023)}

G01R 15/18 ・・誘導装置を使用すること、例えばトランス

G01R 15/181 ・・・{磁気コアのないコイルを使用すること、例えばRogowskiコイル}

G01R 15/183 ・・・{磁気コアを有するトランスを使用すること}

G01R 15/185 ・・・・{補償またはフィードバック・ワインディングまたは相互に作用しているコイルを有する、例えば0-流動センサ(ガルバノ磁気電界センサを使用することG01R 15/20；転換の

G01R 15/186 ・・・{2つ以上のパーツからなる核を有する変流器を使用すること、例えばclamp-onタイプ(G01R 15/142 to G01R 15/16 優位をとる；はし検査器G01R 1/22)}

G01R 15/188 ・・・{上記は、回転可能なパーツから成る、例えば移動コイル(検流計G01R 5/02, G01R 5/14)}

G01R 15/20 ・・ガルバノ磁気装置を使用すること、例えばホール効果素子‖｛電流および磁場の間の相互作用を経た磁場をすなわち測定すること、例えば電気抵抗マグネトまたはホール効果素子(電気機械この種の装置、 G01R 5/00, G01R 7/00, G01R 9/00；測定磁場G01R 33/02)}

G01R 15/202 ・・・{ホール効果素子を使用すること(電力を測定するための配置のホール素子G01R 21/08)}

G01R 15/205 ・・・{磁気抵抗装置を使用すること、例えば分野プレート}

G01R 15/207 ・・・{使用する装置のタイプから独立している構造上の詳細}

G01R 15/22 ・・発光デバイスを使用すること、例えばLED、オプトカプラ{(G01R 31/31901 優位をとる)}

G01R 15/24 ・・光を調整している装置を使用すること

G01R 15/241 ・・・{電気光学変調装置を使用すること、例えば電子吸収(電気光学素子を含んでいる調査G01R 1/071)}

G01R 15/242 ・・・・{ポッケルス効果に基づいて、すなわち線形電気光学効果}

G01R 15/243 ・・・・{カー効果に基づいて、すなわち二次電気光学効果}

G01R 15/245 ・・・{光磁気変調装置を使用すること、例えばファラデー基づく、または、綿のムートン効果}

G01R 15/246 ・・・・{ファラデーに基づいて、すなわち線形磁気光学である、効果}

G01R 15/247 ・・・{回路の詳細または15時までに適用されられる装置の製造/15に対する24B/24C2}

G01R 15/248 ・・・{一定の光源および電気機械的に被駆動デフレクタを使用すること}

G01R 15/26 ・・光以外の波の変調を使用すること、例えばラジオまたは音波

G01R 17/00 参照値を有する比較を含んでいる測定配置、例えばブリッジ

G01R 17/02 ・計量される値が自動的に参照値と比較される準備

G01R 17/04 ・・参照値は、いずれにおいて、計量される値の範囲以上連続的にまたは周期的にさっと払われるか

G01R 17/06 ・・自動釣合わせ配置

G01R 17/08 ・・・測定値を表している力かトルクは、いずれにおいて、参照値を表している力かトルクと釣り合うか

G01R 17/10 ・acまたはdcブリッジ(自動比較またはre-balancingしている配置G01R 17/02)

G01R 17/105 ・・{測定インピーダンスまたは抵抗のための}

G01R 17/12 ・・電流の比較を使用すること、例えば差動の現在の出力を有する橋

G01R 17/14 ・・調整された無効なインジケータによる測定値の徴候を有する、例えばパーセント橋、耐性橋(G01R 17/12, G01R 17/16 優位をとる)

G01R 17/16 ・・橋の一つ以上の腕の放電管または半導体装置を有する、例えば差分増幅器を使用しているボルト計

G01R 17/18 ・・4本以上の分岐路を有する

G01R 17/20 ・acまたは配置を測定してpotentiometricなdc(自動比較またはre-balancingしている準備G01R 17/02)

G01R 17/22 ・・調整された無効なインジケータによる測定値の徴候を有する

G01R 19/00 測定電流または電圧のためのまたは存在を示すための準備またはそれの徴候(G01R 5/00 優位をとる； {電子テストが巡回する２次電子放出を使用している電圧測定値G01R 31/305}；測定生物電気電流または電圧のためのA61B 5/04)

G01R 19/0007 ・{測定している頻度選択的な電圧または電流レベル(測定頻度G01R 23/00；テスト減弱インライン動力伝達装置H04B 3/48；動力伝達装置のテストをモニタすることH04B 17/00)}

G01R 19/0015 ・・{分離ACおよびDC}

G01R 19/0023 ・{高い入力インピーダンスを有する測定回路によって、高い内部抵抗を有するソースから電流または電圧を測定すること、例えばOP-アンプ(静電計測器G01R 5/28；測定静電的な可能性G01R 15/165；測定静電界G01R 29/12；アンプそれ自体H03F)}

G01R 19/003 ・{与えられた時間間隔の間、電流または電圧の平均値を測定すること}

G01R 19/0038 ・{いくつかの入力信号を比較するための、そして、この比較の結果を示すための回路例えば同等、異なる、より大きい、より小さい(振幅によればパルスまたはパルストレインを比較すること)}

G01R 19/0046 ・{他のものにおおわれない特定のアプリケーションまたは詳細によって、サブグループの特徴付けられるG01R 19/00(文書を含まない)}

G01R 19/0053 ・・{ノイズ差別；アナログ・サンプリング；測定一時的現象(個々のパルスの測定特徴G01R 29/02；デジタル・サンプリングG01R 19/2509；測定雑音指数G01R 29/26)}

G01R 19/0061 ・・{粒子線の測定流れ、電子増倍部からの電流、光電流、イオン電流；プラズマにおいて、測定すること}

G01R 19/0069 ・・{測定電圧または現在の標準}

G01R 19/0076 ・・{熱電子管を使用すること}

G01R 19/0084 ・{測定電圧だけ(全てのサブグループのG01R 19/00 優位をとる)}

G01R 19/0092 ・{測定電流だけ(全てのサブグループのG01R 19/00 優位をとる)}

G01R 19/02 ・測定効果的値、すなわちｒｍｓ値

G01R 19/03 ・・thermoconvertersを使用すること{サーモカップルまたは他の熱ゲージ受感部によって、ac-dc転換を使用することG01R 19/225}

G01R 19/04 ・測定ピーク値{または振幅またはエンベロープ}acのまたはパルスの

G01R 19/06 ・測定本当の構成素子；測定反動的な構成素子

G01R 19/08 ・測定電流密度

G01R 19/10 ・測定合計、違いまたは比率

G01R 19/12 ・測定変化率{(電気量の変化率に応答する非常用の保護回路配置H02H 3/44)}

G01R 19/14 ・電流の方向を示すこと；電圧の極性を示すこと

G01R 19/145 ・電流または電圧の存在を示すこと{一般に調査を測定することG01R 1/06；電気装置または線の連続またはショート回路または構成素子を示すことG01R 31/024}

G01R 19/15 ・・電流の存在を示すこと{仮にまた見よG01R 19/145}

G01R 19/155 ・・電圧の存在を示すこと{仮にまた見よG01R 19/145}

G01R 19/165 ・その電流または電圧が値の予め定められた範囲値の中でまたはの外にあることを示す（再生する動きを有する回路、例えばシュミットトリガ素子H03K 3/00；閾値スイッチH03K 17/00)

G01R 19/16504 ・・{使用される構成素子によって、特徴付けられる(文書を含まない)}

G01R 19/16509 ・・・{電磁リレーを使用すること、例えばリード継電器(磁気的に被駆動リードG01R 9/06)}

G01R 19/16514 ・・・{電子管を使用すること}

G01R 19/16519 ・・・{FETのを使用すること}

G01R 19/16523 ・・・{ダイオードを使用すること、例えばゼナーダイオード}

G01R 19/16528 ・・{デジタル技術を使用するかまたは算術演算を実行すること(電圧または電流を判断するためにデジタル技術を使用すること、見よG01R 19/25)}

G01R 19/16533 ・・{アプリケーションによって、特徴付けられる(文書を含まない)}

G01R 19/16538 ・・・{ACまたはDC支出の(G01R 19/16519 そして、G01R 19/16528 優位をとる)}

G01R 19/16542 ・・・・{電池のための(中で充電状態監視G01R 31/36)}

G01R 19/16547 ・・・・{AC支出の電圧または電流(保護のためのスイッチングH02H；非常電源装置のための回路H02J 9/00)}

G01R 19/16552 ・・・・{I.C.の。電源装置}

G01R 19/16557 ・・・{論理調査、すなわち論理状態を示している回路(高さ、低い、 O)； (電子スイッチの変更態様またはスイッチの状態を示すことのゲートH03K 17/18)}

G01R 19/16561 ・・・{携帯導通試験器の(また見よG01R 19/155)}

G01R 19/16566 ・・{回路および電圧または電流を1またはいくつかの閾値と比較するための、そして、サブグループにより適用されられない結果を示すための配置G01R 19/16504, G01R 19/16528, G01R19/16533(文書を含まない)}

G01R 19/16571 ・・・[N:ACまたはコロンビア特別区海流を1つの閾値と比較すること、例えば負荷電流、過電流、サージ流または誤り流(G01R 19/16514, G01R 19/16519, G01R 19/16528, G01R 19/16533, G01R 19/1659 優位をとる；発生する磁場に影響される素子を用いて電流を判断することG01R 15/14；測定土壌抵抗G01R 27/18；漏出のためのテストまたは電気装置の短絡G01R 31/025)

G01R 19/16576 ・・・{DCまたはAC電圧を1つの閾値と比較すること(G01R 19/16514, G01R 19/16519, G01R 19/16528, G01R 19/16533 そして、G01R 19/1659 優位をとる)}

G01R 19/1658 ・・・・{AC電圧または再発する信号}

G01R 19/16585 ・・・{個々のパルスのための、タイミングまたは持続期間が重要である波動またはノイズおよびその他アプリケーション(G01R 19/16519, G01R 19/16538 and G01R 19/16595 優位をとる；パルス幅および立上がり時間のための、見よ G01R 29/02 そして、サブグループ)}

G01R 19/1659 ・・・{値が値の予め定められた範囲の中でまたはの外にあることを示す(ウインドウ) (G01R 19/16514, G01R 19/16519, G01R 19/16528 and G01R 19/16533 優位をとる)}

G01R 19/16595 ・・・・{複数レベル表示を有する(G01R 19/16519 そして、G01R 19/16533 優位をとる)}

G01R 19/17 ・・時間の数の徴候にこれを与えることは、起こる、｛すなわちマルチチャネル・アナライザ}

G01R 19/175 ・電流または電圧の与えられた値の移動の瞬間を示すこと、例えばゼロの移動

G01R 19/18 ・acにdcの転換を使用すること、例えばチョッパーを有する{入力の変調装置および出力の復調装置を有するDCアンプH03F 3/38}

G01R 19/20 ・・transductorsを使用する｛いずれがACによって、周期的に逆転するか、飽和が２段側に供給する磁気コア・トランスデューサにすなわち（他のDC現在のトランスデューサ、例えば0-流動原理を使用すること、 G01R 15/185；磁気増幅器H03F 9/00)}

G01R 19/22 ・dcにacの転換を使用すること

G01R 19/225 ・・{サーモカップルまたは他の熱ゲージ受感部によって}

G01R 19/25 ・デジタル測定技術を使用すること(ディジタルの形の測定された電気的な変数を示すための配置G01R 13/02){アナログ/デジタル転換H03M}

G01R 19/2503 ・・{電圧だけを測定するための、例えばデジタル・ボルトメータ(DVMの) (G01R 19/2506 to G01R 19/257 優位をとる)}

G01R 19/2506 ・・{測定された信号を条件づけるかまたは分析するための配置、例えばピーク値を示すための(G01R 19/003 優位をとる)；サンプリングに関する詳細、デジタル化している波形捕えている(表示波形G01R 13/00；アナログ・サンプリングG01R 19/0053)}

G01R 19/2509 ・・・{サンプリングに関する詳細、デジタル化している波形捕えている}

G01R 19/2513 ・・{監視電力システム用の配置、例えば送電線または負荷；伐採}

G01R 19/2516 ・・{コンピュータ用のモジュール式の配置は、システムの基礎を形成した、例えば、パソコン（PCの）を使用すること"仮想計測器"}

G01R 19/252 ・・アナログを使用すること/電圧の転換または頻度への電流を有するタイプのデジタルコンバータおよびこの頻度の測定

G01R 19/255 ・・アナログを使用すること/電圧または電流と比例した期間の間に、パルスの中で計数することに関するタイプのデジタルコンバータ、一定の頻度を有するパルスジェネレータにより分配される

G01R 19/257 ・・異なる参照値と電圧または電流の値との比較を有するタイプのアナログ/デジタルコンバータを使用すること、例えば段階的な方法を使用すること

G01R 19/28 ・定数を配信していた回路において、測定するために構成される

G01R 19/30 ・最大または電流または電圧の最小限の値を計量することは、時間間隔において、手を伸ばした(G01R 19/04 優位をとる；最大または最小限の値が時間間隔において、手を伸ばしたことを示す計測器の変更態様G01R 1/40； {デジタル方法を使用することG01R 19/2506})

G01R 19/32 ・温度を補償することは、変化する({G01R 19/02 to G01R 19/30 優位をとる}；温度補償に対する手段の変更態様G01R 1/44)

G01R 21/00 測定電力または力率のための準備(G01R 7/12 優位をとる)

G01R 21/001 ・{測定本当であるか反動的な構成素子；測定見かけのエネルギー(G01R 21/01, G01R 21/02, G01R 21/08, G01R 21/10 そして、G01R 21/127 優位をとる)}

G01R 21/002 ・・{測定本当の構成素子}

G01R 21/003 ・・{測定反動的な構成素子}

G01R 21/005 ・・{測定皮相電力}

G01R 21/006 ・{測定力率}

G01R 21/007 ・{測定している特別な関税のために構成される(G01R 21/01, G01R 21/02, G01R 21/08, G01R 21/10, G01R 21/1278 そして、G01R 21/1333 優位をとる)}

G01R 21/008 ・・{測定最大の要求}

G01R 21/01 ・定数を配信していた回路の(G01R 21/04, G01R 21/07, G01R 21/09, G01R 21/12 優位をとる)

G01R 21/02 ・熱方法によって、｛例えば熱量測定である}

G01R 21/04 ・・定数を配信していた回路の

G01R 21/06 ・測定電流および電圧によって(G01R 21/08 to G01R 21/133 優位をとる)

G01R 21/07 ・・定数を配信していた回路の(G01R 21/09 優位をとる)

G01R 21/08 ・ガルバノ磁気な効果装置を用いて、例えばホール効果素子(この種の装置それ自体H01L； {現在の測定値だけのための、見よG01R 15/20})

G01R 21/09 ・・定数を配信していた回路の

G01R 21/10 ・回路素子の正方形の法特性を用いて、例えばダイオード、多くの周知のインピーダンスにより吸収される力を測定する(G01R 21/02 優位をとる)

G01R 21/12 ・・定数を配信していた回路の

G01R 21/127 ・パルス変調を用いて(G01R 21/133 優位をとる； {デルタ・シグマ変調を経たデジタル乗算G06F 7/60})

G01R 21/1271 ・・{測定本当であるか反動的な構成素子、測定見かけのエネルギー}

G01R 21/1273 ・・・{測定本当の構成素子}

G01R 21/1275 ・・・{測定反動的な構成素子}

G01R 21/1276 ・・・{測定見かけのエネルギー}

G01R 21/1278 ・・{測定している特別な関税のために構成される}

G01R 21/133 ・デジタル技術を用いて

G01R 21/1331 ・・{測定本当であるか反動的な構成素子、測定見かけのエネルギー}

G01R 21/1333 ・・{測定している特別な関税のために構成される}

G01R 21/1335 ・・・{回路を切替えている関税}

G01R 21/1336 ・・・{測定overconsumption}

G01R 21/1338 ・・・{測定最大の要求}

G01R 21/14 ・温度を補償することは、変化する

G01R 22/00 電力または電流の測定時間積分のための配置、例えば電気メーターによって(そのための電気機械配置G01R 11/00；電気的に推進された車両の電気的な消費をモニタすることB60L 3/00；硬貨は、装置を解いたG07F 15/00)]

G01R 22/02 ・電解方法によって

G01R 22/04 ・熱量測定方法によって

G01R 22/06 ・電子方法によって

G01R 22/061 ・・{電子電気メーターの詳細}

G01R 22/063 ・・・{遠隔伝達に関する}

G01R 22/065 ・・・{機械の態様に関する}

G01R 22/066 ・・・{不正な使用を避けるかまたは示すための準備}

G01R 22/068 ・・・{誤りの示すかまたは信号を送るための準備}

G01R 22/08 ・・アナログ技術を使用すること

G01R 22/10 ・・デジタル技術を使用すること

G01R 23/00 頻度を計量するための準備；周波数スペクトルを分析するための準備(頻度識別者H03D； {高周波調査G01R 1/06772})

G01R 23/005 ・{いくつかの入力信号を比較するための、そして、この比較の結果を示すための回路、例えば同等、異なる、より大きい、より小さい(比較位相または復調装置の2つの相互に独立振動の頻度)}

G01R 23/02 ・頻度を計量するための準備、例えばパルス繰返し率{(振動しているリードを使用することG01R 9/04)}電流または電圧の測定周期のための準備(測定短い間隔G04F)

G01R 23/04 ・・定数を配信していた回路において、測定するために構成される

G01R 23/06 ・・頻度を電流または電圧の振幅に換算することによって

G01R 23/07 ・・・反響に調整される回路の反応を使用すること、例えば格子-滴メートル

G01R 23/08 ・・・反響から調整される回路の反応を使用すること

G01R 23/09 ・・・アナログ積算器を使用すること、例えば入力信号および定義済みの放出信号のバランスまたは漏出によって、平均値を決めているコンデンサ(放射線検出器によって、発生するパルスが統合される放射線測定計測器G01T 1/15)

G01R 23/10 ・・頻度を一連のパルス（それは、それから計数される）に変換することによって、｛すなわち信号を方形波に変換すること}

G01R 23/12 ・・頻度を位相シフトに変換することによって

G01R 23/14 ・・ヘテロダイン効果を起こすことによって；うなり振動数比較によって(異なる頻度の調節されていない信号を打つことによる振動の生成H03B 21/00)

G01R 23/145 ・・・{ヘテロダイン効果を起こすことによって、または発振器の倍音を有するうなり振動数比較によって}

G01R 23/15 ・・パルスの頻度が値の予め定められた範囲値の中でまたはの外にあることを示すこと、非線形であるかデジタル素子を使用することによって{(パルス幅が特定の制限の上下に、あることを示すこと)}

G01R 23/155 ・・・{時間の数の徴候にこれを与えることは、起こる、すなわちマルチチャネル・アナライザ(パルス特徴のための)}

G01R 23/16 ・スペクトル分析；フーリエ解析{(フーリエ級数またはウォルシュ機能を有するコンピューティングG06F 17/14, G06G 7/19；スペクトル・データ処理)}

G01R 23/163 ・・定数を配信していた回路において、測定するために構成される

G01R 23/165 ・・フィルタを使用すること

G01R 23/167 ・・・ディジタルフィルタを有する

G01R 23/17 ・・オプティカルを有する{または聴覚である}補助装置

G01R 23/173 ・・さっと払われたパノラマのレシーバと同様のWobbulating装置(パノラマのレシーバそれ自体H03J 7/32)

G01R 23/175 ・・遅延手段によって、例えばタップ付遅延線

G01R 23/177 ・・超長波の分析

G01R 23/18 ・・記録周波数スペクトルに対する準備を有する

G01R 23/20 ・・非線形歪曲の測定、｛例えば和声学またはノイズ、 (G01R 31/31708 優位をとる；雑音指数G01R 29/26)}

G01R 25/00 電圧および電流間の測定位相角のための準備、または電圧または電流間の(測定力率G01R 21/00；パルストレインの個々のパルスの測定位置G01R 29/02；位相識別者H03D)

G01R 25/005 ・{いくつかの入力信号を比較するための、そして、この比較の結果を示すための回路例えば同等、異なる、より大きい、より小さい、または出力信号として入力信号のうちの1つを超えるための}

G01R 25/02 ・定数を配信していた回路の

G01R 25/04 ・予め定められた位相差を生じるために移相器の調整を含むこと、例えば0違い

G01R 25/06 ・商計測器を使用すること

G01R 25/08 ・標準のパルスの中で計数することによって(測定時間間隔G04F)

G01R 27/00 抵抗を測定するための準備、リアクタンス、インピーダンス、またはそこから引き出される電気的な特徴{(測定超伝導の特性G01R 33/1238)}

G01R 27/02 ・測定本物であるか合成の抵抗体、リアクタンス、インピーダンスまたは他の2-ポール特徴は、そこから由来した、例えば時定数(位相角だけを測定することによってG01R 25/00)

G01R 27/025 ・・{測定非常に高い抵抗、例えば隔離抵抗、すなわちメグオーム計}

G01R 27/04 ・・定数を配信していた回路の、｛例えば非常に長い導体を有するかまたは高周波を含むこと}

G01R 27/06 ・・・測定音圧反射率；測定定在波比率

G01R 27/08 ・・抵抗を電圧および電流を判断することで測定すること

G01R 27/10 ・・・2-コイルまたは交差したコイル計測器フォーミング（成形）指数を使用すること

G01R 27/12 ・・・・手発生器を使用すること、例えばmeggers

G01R 27/14 ・・測定電流による測定抵抗または基準線源から得られた電圧(G01R 27/16, G01R 27/20, G01R 27/22 優位をとる)

G01R 27/16 ・・素子の測定インピーダンスまたは電流が他のソースから通過しているネットワーク、例えばケーブル、送電線

G01R 27/18 ・・・地球に対する測定抵抗、｛すなわち接地点に対する線}

G01R 27/20 ・・測定土壌抵抗、測定接触抵抗、｛例えば}土壌接続の、例えばプレート

G01R 27/205 ・・・{接続の測定接触抵抗、例えば土壌接続の}

G01R 27/22 ・・流体の測定抵抗(計量容器、そのための電極G01N 27/07)

G01R 27/26 ・・測定インダクタンスまたは静電容量、測定コイルのＱ、例えば反響方法を用いて；測定損失係数；測定誘電率； {測定インピーダンスまたは関連した変数}

G01R 27/2605 ・・・{測定静電容量(容量性センサG01D 5/24)}

G01R 27/2611 ・・・{測定インダクタンス}

G01R 27/2617 ・・・{測定誘電特性、例えば定数(テスト絶縁耐力G01R 31/12；絶縁誤りを検出することG01R 31/025; G01R 27/2688 優位をとる)}

G01R 27/2623 ・・・・{測定システムまたは電子回路(G01R 27/2635, G01R 27/2682 優位をとる)}

G01R 27/2629 ・・・・・{ブリッジ回路(損失角を測定するための橋G01R 27/2694)}

G01R 27/2635 ・・・・{試料ホルダ、電極または励振配置、例えばセンサまたは測定細胞}

G01R 27/2641 ・・・・・{プレート・タイプの、すなわち中央においてはさまれるサンプルを有する}

G01R 27/2647 ・・・・・{同軸であるか同心のタイプの、例えば同軸線のサンプルを有する}

G01R 27/2652 ・・・・・・{制限のないタイプ、例えばサンプルに対して当接すること}

G01R 27/2658 ・・・・・{空腔、共振器、自由空間配置、反射または干渉準備(G01R 27/2647 優位をとる；光学的方法G01R 27/2682)}

G01R 27/2664 ・・・・・・{伝送線、導波管(閉じるか制限のない)または細片−またはマイクロストリップ線配置}

G01R 27/267 ・・・・・{コイルまたはアンテナ配置、例えばサンプルまたは送信機を囲んでいるコイル/レシーバ・アンテナ}

G01R 27/2676 ・・・・・{調査}

G01R 27/2682 ・・・・{光学的方法または電子ビームを使用すること}

G01R 27/2688 ・・・{測定コイルのＱまたは誘電体損失、例えば損失角、または力率(力率は、力の測定値に関したG01R 21/006；テスト・コンデンサG01R 31/016)}

G01R 27/2694 ・・・・{測定誘電体損失、例えば損失角、損失係数または力率}

G01R 27/28 ・測定減弱、増加、位相シフトまたは電気的な4つのポール・ネットワークの派生特徴、すなわち2-ポート・ネットワーク{ネットワーク・アナライザを使用すること}測定過渡応答(インライン動力伝達装置H04B 3/46)

G01R 27/30 ・・録音特性に対する準備を有する、例えばナイキスト線図を計画することによって

G01R 27/32 ・・定数を配信していた回路の、｛例えば非常に長い導体を有するかまたは高周波を含むこと}

G01R 29/00 グループにより適用されられない電気的な量を計量するかまたは示すための準備G01R 19/00 to G01R 27/00

G01R 29/02 ・個々のパルスの測定特徴、例えばパルス平坦さからの偏差、立上がり時間、持続期間(振幅のG01R 19/00；繰り返し率のG01R 23/00；2つの周期的パルストレインの位相差のG01R 25/00；パルストレインの監視パターンH03K 5/19)

G01R 29/023 ・・{測定パルス幅}

G01R 29/027 ・・パルス特徴が値の予め定められた範囲値の中でまたはの向こうにあることを示すこと

G01R 29/0273 ・・・{持続期間であるパルス特徴すなわち幅(パルスの頻度が特定の制限の上下に、あることを示すこと)}

G01R 29/0276 ・・・{立上がり時間であるパルス特徴(測定変化率19/12)}

G01R 29/033 ・・・時間の数の徴候にこれを与えることは、起こる、｛すなわちマルチチャネル・アナライザ(頻度である特徴)}

G01R 29/04 ・測定波形率、すなわちｒｍｓ値の商および瞬時値の算術平均、測定ピークの要因、すなわち最大値およびｒｍｓ値の商

G01R 29/06 ・変調の測定深さ

G01R 29/08 ・測定電磁界特徴{測定静電界G01R 29/12；電圧を決定するためのG01R 15/14；測定磁場G01R 33/00；レシーバ信号強度徴候(RSSI) H04B 17/0042}

G01R 29/0807 ・・{アプリケーションによって、特徴付けられる(使われない、サブグループを参照)}

G01R 29/0814 ・・・{分野測定値は、装置上のまたはからの測定影響に関した、構成素子または人間(EMC、EMIおよび類似したテスト一般にG01R 31/001)、例えばESDの、EMI、EMC、EMPテスト、測定放射線漏出；マイクロまたは電波エミッタの存在を検出すること；線量測定；テスト遮へい；測定値は、電光に関した}

G01R 29/0821 ・・・・{部屋および試験場したがって、例えば無反響の室、広々とした分野敷地またはTEM電池(アンテナを試験するためのG01R 29/105)}

G01R 29/0828 ・・・・・{TEM電池}

G01R 29/0835 ・・・・{テスト遮へい、例えば効率のための}

G01R 29/0842 ・・・・{電光に関連した測定値、例えば測定電気的な妨害、警告システム}

G01R 29/085 ・・・・{存在または電気線またはケーブルの位置を検出するための(誤り検出G01R 31/02；誤り場所G01R 31/08)}

G01R 29/0857 ・・・・{線量測定、すなわち放射線強度の時間積分を測定すること；個人安全使用法のためのレベル・ブレーキ警報装置(核放射線線量測定G01T)}

G01R 29/0864 ・・{構造上であるか機能的な特徴によって、特徴付けられる(使われない、サブグループを参照)}

G01R 29/0871 ・・・{完全な装置またはシステム、回路、例えばレシーバまたはアンプ(G01R 29/0878, G01R 29/0892 優位をとる；線量計、ブレーキ警報装置29/08A3F)}

G01R 29/0878 ・・・{センサ；アンテナ；調査；探知器(断面を測定している導波管G01R 1/24)}

G01R 29/0885 ・・・・{光学プローブを使用すること、例えば電気光学である、luminiscentである、グロー放電、または光学干渉計}

G01R 29/0892 ・・・{詳細は、信号分析または処理に関した、結果を提示すること、例えばディスプレイ、場の強さ以外の測定特定の信号特徴、例えば分極化、分野モード、位相、エンベロープ、最大値}

G01R 29/10 ・・アンテナの放射線線図； {アンテナ・テスト一般に}

G01R 29/105 ・・・{無反響の室を使用すること；チェンバーズまたは使用する広々とした分野敷地したがって(アンテナより別の目的に測定するために使用する試験場G01R 29/0828；装置を吸収している波H01Q 17/00)}

G01R 29/12 ・測定静電界{または電位}

G01R 29/14 ・・測定分野配布

G01R 29/16 ・多相ネットワークの測定非対称

G01R 29/18 ・位相シーケンスを示すこと；同期を示すこと

G01R 29/20 ・ターンの測定数；ワインディングの測定変圧比またはカップリング要因({試験する、または、}計測器変成器を調整することG01R 35/02)

G01R 29/22 ・測定圧電特性

G01R 29/24 ・多量の負担を測定するための準備(静電計測器G01R 5/28；電流の存在を示すことG01R 19/15；電解メーター、熱量測定メーター、電流の測定時間積分のためのG01R 22/02, G01R 22/04)

G01R 29/26 ・測定雑音指数、SN比を測定する｛測定ジッタ、すなわち位相ノイズ、 (歪曲G01R 23/20；個々のトランジスタにおいて、測定しているノイズG01R 31/2616, G01R 31/2626)}

G01R 31/00 電気的な特性を試験するための準備；電気的な誤りの位置を決めるための準備；他の場所で提供されなくて試験されていることによって、特徴付けられる電気テストのための準備(測定リード、測定調査G01R 1/06； {測定超電導な特性G01R 33/1238；テストまたは機能モニタリングのためのデータ処理装置G06F 15/20B}；開閉装置または調速機の保護装置の電気状態を示すことH01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04；製造の間、試験するかまたは半導体または固体装置を測定することH01L 22/00；テスト変電所装置、例えば携帯電話H04M 1/24；テストまたは制御系のモニタリングG05B 23/02； {テストであるか監視送信機またはレシーバH04B 17/00})

G01R 31/001 ・{外部からの干渉が供給契約する測定または放出から（被試験デバイス）例えばEMC、EMI、EMPまたはESDテスト(測定電磁界G01R 29/08；絶縁耐力テストのHVパルスを起こすための回路G01R 31/14)}

G01R 31/002 ・・{そこにおいて、被試験デバイスは、電子回路である}

G01R 31/003 ・{環境または信頼性試験(個々の半導体のG01R 31/2642; of

G01R 31/005 ・{輸送手段上の電気装置のテスト}

G01R 31/006 ・・{路上走行車上の、例えば自動車またはトラック(内燃機関に特有の点火装置のテストF02P 17/00)}

G01R 31/007 ・・・{マイクロプロセッサまたはコンピュータを使用すること}

G01R 31/008 ・・{air-または宇宙船上の、鉄道所有車両または航洋船}

G01R 31/01 ・例えば、類似した物品を中で従属させることは、試験に変化する。"go/no-go"大量生産の試験；それらがテスト位置を通過するにつれて、テストは位置で反対する(G01R 31/18 優位をとる； {電池を試験するためのG01R 31/36})

G01R 31/013 ・・{テスト静的機器(リレーG01R 31/3278；電気ワインディング、例えばインダクタンスコイルG01R 31/06)}

G01R 31/016 ・・・{コンデンサのテスト(測定静電容量G01R 27/2605)}

G01R 31/02 ・電気装置のテスト、線または構成素子、なぜならば、短絡する、不連続、漏出{電流の}、または誤った線接続{(G01R 31/001, G01R 31/005, G01R 31/01, G01R 31/08, G01R 31/12, G01R 31/24, G01R 31/26, G01R 31/28, G01R 31/327, G01R 31/34, G01R 31/36, G01R 31/40, G01R 31/44 優位をとる；測定電磁界漏出G01R 29/0821；点火プラグのテストH01T 13/58)}

G01R 31/021 ・・{ケーブルまたは導体のテスト(電気ワインディングのテストG01R 31/06；ケーブルの絶縁のテストG01R 31/1272；テストLANH04L 12/2697；テスト線動力伝達装置H04B 3/46)}

G01R 31/022 ・・・{ケーブルまたは導体が連続的にテスト装置を渡すと共に、試験して、例えば製造の間、}

G01R 31/023 ・・・{multicoreケーブルの導線の識別}

G01R 31/024 ・・{連続を示すための装置、または、電気装置または線の短絡する、漏出または地絡(電気ワインディングのG01R 31/06；地球に対する測定抵抗G01R 27/18)}

G01R 31/025 ・・・{テスト短絡、漏出または地絡(電気的に推進された車両の駆動列の範囲内で失敗を検出することB60L 3/0023)}

G01R 31/026 ・・・{テスト連続(G01R 31/44 優位をとる)}

G01R 31/027 ・・{トランスのテスト(電気ワインディングのテストG01R 31/06)}

G01R 31/028 ・・{コンデンサのテスト}

G01R 31/04 ・・テスト接続、例えばプラグの、非disconnectableなジョイントの{(G01R 31/31717 優位をとる；集積回路の接続のテスト、鉛に対するチップ接続、ボンド・ワイヤG01R 31/2853)}

G01R 31/041 ・・・{電気装置および回路の正しい導線接続のテスト(挿入に関する詳細または電池の接続H02J 7/0045)}

G01R 31/043 ・・・{releaseableな接続の、例えば印刷回路基板に載置する端末}

G01R 31/045 ・・・・{プラグの、ケーブルまたはワイヤーハーネスの終わりのソケットまたは端末；コンセントの；器具の電動ソケットの}

G01R 31/046 ・・・{構成素子および印刷回路基板間の接続の(PCBの) (G01R 31/043 優位をとる)}

G01R 31/048 ・・・・{テストはんだ接合に関する詳細}

G01R 31/06 ・・電気ワインディングのテスト｛例えばソレノイドのインダクタンスコイル｝、例えば極性のための{G01R 31/027 そして、G01R 31/346 優位をとる}(ターンの測定数、変圧比、またはカップリング要因G01R 29/20； {リフティングマグネットのための監視であるかフェイルセーフ回路H01F 7/1844})

G01R 31/07 ・・ヒューズのテスト(構造的にヒューズの条件を示すための手段は、ヒューズと関連したH01H 85/30)

G01R 31/08 ・ケーブルの欠陥の位置を決めること、伝送線、またはネットワーク(非常用の保護回路配置H02H){装置すること、維持すること、電線または線を修理するかまたは分解することH02G 1/00；LANのを試験することH04L 12/2697}

G01R 31/081 ・・{導体のタイプによれば}

G01R 31/083 ・・・{ケーブルの、例えば地下鉄}

G01R 31/085 ・・・{動力伝達装置または配電線路の、例えばオーバーヘッド}

G01R 31/086 ・・・{動力伝達装置または配電網の、すなわち相互に連結した導体を有する}

G01R 31/088 ・・{デジタル・コンピューティングの態様}

G01R 31/10 ・・誤っている滅失を増やすことによって、例えば特別なプログラムを操作しているパルスジェネレータを用いてburning-in

G01R 31/11 ・・パルス反射法を使用すること

G01R 31/12 ・テスト絶縁耐力または絶縁破壊電圧、｛絶縁のテストであるか監視効果またはレベル、例えばケーブルのまたは装置の、例えば部分的な放出測定値を使用すること；静電的なテスト(G01R 31/06, G01R 31/08 and G01R 31/327 優位をとる；プラズマにおいて、測定することG01R 19/0061；測定誘電率G01R 27/2617；ESD、回路のEMCまたはEMPテストG01R 31/002)}

G01R 31/1209 ・・{音響測定値を使用すること(音響測定値G01H 3/00)}

G01R 31/1218 ・・{光学的方法を使用すること、荷電粒子を使用すること、例えば電子、光線またはＸ線}

G01R 31/1227 ・・{構成素子の、パーツまたは材料(G01R 31/1209, G01R 31/1218 , G01R 31/18 優位をとる；そのための回路G01R 31/14；電極のテスト容器G01R 31/16)}

G01R 31/1236 ・・・{サージ避雷器の(監視過電圧ダイバータまたは避雷器H02H 3/048)}

G01R 31/1245 ・・・{線絶縁体またはスペーサの、例えばセラミック高架線キャップ絶縁体；HVブシュの絶縁体の}

G01R 31/1254 ・・・{ガスを絶縁された電動器具または真空のすきまの(テスト・スイッチG01R 31/327；入っている開閉装置の電気であるか機械の欠陥を検出することH02B 13/065)}

G01R 31/1263 ・・・{固体であるか流体材料の、例えば絶縁膜、バルク材；半導体またはLV電子構成部品またはパーツの；ケーブルの、線または導線絶縁}

G01R 31/1272 ・・・・{ケーブル、線または導線絶縁の、例えば部分的な放出測定値を使用すること(ケーブルの欠陥の位置を決めることG01R 31/08B2)}

G01R 31/1281 ・・・・{液体またはガスの}

G01R 31/129 ・・・・{構成素子または半導体化している材料でできているパーツの；LV構成素子またはパーツの(G01R 31/18 優位をとる)}

G01R 31/14 ・・そのための回路、｛例えば試験電圧を発生させるための、検知回路(G01R 31/1209 to G01R 31/1227 優位をとる；スイッチを試験するためのG01R 31/327)}

G01R 31/16 ・・テスト船の建造；そのための電極

G01R 31/18 ・・試験するターンの類似した物品を従属させること、例えば行く/大量生産のノー試み試験

G01R 31/20 ・・物品の準備または試験するのを容易にする見本

G01R 31/24 ・放電管のテスト(製造の間、H01J 9/42)

G01R 31/245 ・・{ガス放電管のテスト}

G01R 31/25 ・・真空管のテスト

G01R 31/252 ・・・{電子増倍部のテスト、例えば光電子増倍管}

G01R 31/255 ・・・{走行時間管のテスト、例えばクライストロン、マグネトロン}

G01R 31/257 ・・・{光線-管のテスト、例えばCRT、イメージ・ピックアップ管(チャネル蛍光増倍管配列のG01R 31/252；走行時間管のG01R 31/255)}

G01R 31/26 ・個々の半導体装置のテスト(資料の不純物内容の測定G01N)

G01R 31/2601 ・・{装置または方法したがって(G01R 31/2607, G01R 31/2642 優位をとる)}

G01R 31/2603 ・・・{半導体特徴のカーブ写図のための、例えばオシロスコープ上の}

G01R 31/2605 ・・・{個々の太陽電池を試験するための}

G01R 31/2607 ・・{そのための回路(G01R 31/2642 優位をとる)}

G01R 31/2608 ・・・{バイポーラトランジスタを試験するための}

G01R 31/261 ・・・・{そのための電圧で放電開始電圧またはパンチを測定するための}

G01R 31/2612 ・・・・{周波数応答特徴を測定するための、例えばそれのカットオフ振動数}

G01R 31/2614 ・・・・{それの増加要因を判断するための}

G01R 31/2616 ・・・・{ノイズを測定するための(一般にノイズ要因を判断することG01R 29/26)}

G01R 31/2617 ・・・・{それの切換特性を測定するための}

G01R 31/2619 ・・・・{それの熱特性を測定するための}

G01R 31/2621 ・・・{電界効果トランジスタを試験するための、すなわちFETの}

G01R 31/2623 ・・・・{そのための放電開始電圧を測定するための}

G01R 31/2625 ・・・・{それの増加要因を判断するための}

G01R 31/2626 ・・・・{ノイズを測定するための(一般にノイズ要因を判断することG01R 29/26)}

G01R 31/2628 ・・・・{それの熱特性を測定するための}

G01R 31/263 ・・・{サイリスタを試験するための}

G01R 31/2632 ・・・{ダイオードを試験するための}

G01R 31/2633 ・・・・{それの切換特性を測定するための}

G01R 31/2635 ・・・・{テスト発光ダイオード、レーザダイオードまたはフォトダイオード}

G01R 31/2637 ・・・{他の個々の装置を試験するための(G01R 31/2608 to G01R 31/2632, G01R 31/27 優位をとる)}

G01R 31/2639 ・・・・{電界効果装置を試験するための、例えばMOS-コンデンサの(G01R 31/2621 優位をとる)}

G01R 31/2641 ・・・{電荷結合素子を試験するための}

G01R 31/2642 ・・{テスト半導体動作生涯または信頼性、例えば加速された寿命試験によって}

G01R 31/2644 ・・{それのテストを容易にする個々の半導体装置の改作}

G01R 31/2646 ・・{ノイズを測定するための(G01R 31/2616, G01R 31/2626 優位をとる)}

G01R 31/2648 ・・{半導体材料の特徴を描写すること(材料または鋼片のテストG01R 31/2831；製造の間のテストH01L 22/00)}

G01R 31/265 ・・コンタクトレスのテスト{(回路の、また、ウェーハ-形式のG01R 31/302)}

G01R 31/2653 ・・・{電子ビームを使用すること}

G01R 31/2656 ・・・{非イオン化している電磁放射を使用すること、例えば光学的放射}

G01R 31/27 ・・それらが一部を形成する回路からの物理的な除去のない装置のテスト、例えば素子を囲んでいる効果を補償すること{(テスト印刷回路基板G01R 31/2801)}

G01R 31/275 ・・・{集積回路の範囲内で個々の半導体構造体を試験するための}

G01R 31/28 ・電子回路のテスト、例えば信号トレーサによって({EMC、電子回路のEMPまたは類似したテストG01R 31/002}；試験することは、短絡する、不連続、漏出または誤った線接続G01R 31/02；チェック・コンピュータ{またはコンピュータ構成素子}G06F 11/00；正しい動作のためのチェック静的ストアG11C 29/00； {動力伝達装置のテスト・レシーバまたは送信機H04B 17/00})

G01R 31/2801 ・・{プリント回路のテスト、バックプレーン、マザーボード、multichipパッケージ用のハイブリッド回路またはキャリア(MCP) (G01R 31/318508 優位をとる；コンタクトレスのテストG01R 31/302；テスト接触または接続G01R 31/04)}

G01R 31/2803 ・・・{機能的な試験によって、例えば論理回路-シミュレーションまたはアルゴリズムしたがって(テスト電子ディジタル計算機G06F 11/00)}

G01R 31/2805 ・・・{裸の印刷回路基板}

G01R 31/2806 ・・・{そのための装置、例えば試験ステーション、ドライバ、アナライザ、運搬装置(G01R 31/2805, G01R 31/281, G01R 31/2818 優位をとる)}

G01R 31/2808 ・・・・{装置を保つか、運搬するかまたは接触させること、例えば試験アダプタ、エッジコネクタ、エキステンダ・ボード(調査、マルチプローブ、調査操作者または探測機取付け具G01R 1/067)}

G01R 31/281 ・・・{試験の特定の種または1種類の特定の誤りに対する検査、例えば熱マッピング、ショーツ・テスト(G01R 31/2818 優位をとる)}

G01R 31/2812 ・・・・{開回路またはショーツのための浅割れ目、例えばはんだ橋；テスト伝導率、抵抗率またはインピーダンス(接続のG01R 31/04)}

G01R 31/2813 ・・・・{存在、場所、オリエンテーションまたは値を点検すること、例えば抵抗、構成素子または導体の(試験治具に関するDUTの方向づけG01R 1/06705, G01R 31/281)}

G01R 31/2815 ・・・・{機能的な試験、例えば境界線走査、通常のiを使用すること/O接触(接触装置G01R 31/2808；テスト・デジタル回路G01R 31/317, G06F11)}

G01R 31/2817 ・・・・{環境、応力、またはバーンイン試験(ICのG01R 31/2855；個々の半導体のG01R 31/2642；他の回路のG01R 31/2849)}

G01R 31/2818 ・・・{動いているテスト構造または変更態様を使用する、テストの目的で作られて、下のカードが、試験する例えば追加的な構成素子またはコネクタ(G01R 31/2805 優位をとる、回路を印刷される例えばシンボル、テストパターンまたは視覚化手段H05K 1/0266)}

G01R 31/282 ・・{電子回路のテストは、他の場所で提供されない特定のアプリケーションのために、特別に適応した(G01R 31/2801 そして、G01R 31/2851 優位をとる)}

G01R 31/2822 ・・・{マイクロ波または高周波回路の（減弱（増加）の中で例えばネットワーク・アナライザを使用することG01R 27/28)}

G01R 31/2824 ・・・・{発振器または共振器のテスト}

G01R 31/2825 ・・・{家庭用器具または専門のオーディオの/ビデオ装置(テスト拡声器H04R 29/00、LANのを試験することH04L 12/2697；テスト・テレビ・システムH04N 17/00)}

G01R 31/2827 ・・・{電子保護回路のテスト(テスト・スイッチG01R 31/327；チェック障害者用警報装置G08B 29/00；和変流器の自己試験H02H 3/335)}

G01R 31/2829 ・・・N：センサまたはアクチュエータ・システムの回路のテスト(電気的であるか磁気変数を測定する装置のテストG01R 35/00；装置を示すかまたは記録するテストG01D；エアバッグ・システムでB60R 21/00B4D; checking gas analysers G01N 33/007；リフティングマグネットのための監視であるかフェイルセーフ回路H01F 7/1844)]

G01R 31/2831 ・・・{材料または鋼片のテスト、例えば半導体ウエハまたは下地(G01R 31/318511 優位をとる；製造の間のテストH01L 22/00)}

G01R 31/2832 ・・{他の場所で提供されない電子回路の特定の試験(文書を含まない； G01R 31/2801 そして、G01R 31/316 優位をとる)}

G01R 31/2834 ・・・{オートメーション化した試験システム(ATE)；マイクロプロセッサまたはコンピュータを使用すること(G01R 31/317 優位をとる；不完全なコンピュータハードウェアの検出のためのATEG06F 11/273A；テストのための特別な目的コンピュータG06F 15/20B)}

G01R 31/2836 ・・・{あら探しまたは特徴を描写する(G01R 31/2822 to G01R 31/2831 優位をとる)}

G01R 31/2837 ・・・・{特徴を描写しているまたはパフォーマンス・テスト、例えば周波数応答の(過渡応答G01R 27/28)}

G01R 31/2839 ・・・・{ピックアップを使用すること、電源装置または回路アナライザ(G01R 31/2879 優位をとる；マルチメータG01R 15/12、ネットワーク・アナライザG01R 27/28)}

G01R 31/2841 ・・・・・{ピックアップ}

G01R 31/2843 ・・・・{In-circuit-testingすること}

G01R 31/2844 ・・・・{テスト・インターフェースを使用すること、例えばアダプタ、試験ボックス、スイッチ、ピン・ドライバ(G01R 31/2889 優位をとる)}

G01R 31/2846 ・・・・{hard-またはソフトウェア・シミュレーションを使用するかまたは知識ベース・システムを使用すること、例えばエキスパートシステム、人工知能またはインタラクティブなアルゴリズム}

G01R 31/2848 ・・・・・{シミュレーションを使用すること}

G01R 31/2849 ・・・・{環境または信頼性テスト、例えばバーンインまたは確認試験(個々の半導体のG01R 31/2642；プリント回路ボードのG01R 31/2817；ICのG01R 31/2855)}

G01R 31/2851 ・・{集積回路のテスト(IC) (G01R 31/317 優位をとる；テスト個々の装置G01R 31/26；テスト・プリント回路G01R 31/2801)}

G01R 31/2853 ・・・{内部接続の電気のテスト、または、-隔離、例えばラッチアップまたは鉛に対するチップ接続(G01R 31/31717 優位をとる；PCBに対するチップまたはPCBに対するリード接続の試験G01R 31/04)}

G01R 31/2855 ・・・{環境、信頼性またはバーンイン・テスト}

G01R 31/2856 ・・・・{内部回路態様、例えば内蔵型試験は、大きな位置を占める、チップを試験する、測定物質的な態様、例えば電子移動(EM)}

G01R 31/2858 ・・・・・{物質的な態様の中で測定すること、例えばエレクトロマイグレーション(EM)、熱いキャリア注射}

G01R 31/286 ・・・・{外部の態様、例えば室に関する、接触装置またはハンドラ}

G01R 31/2862 ・・・・・{チェンバーズまたはオーブン；タンク}

G01R 31/2863 ・・・・・{接触装置、例えばソケット、バーンイン・ボードまたは取付備品(一般にG01R 1/04)}

G01R 31/2865 ・・・・・{保持装置、例えばチャック；ハンドラまたは輸送装置(接触を有するG01R 31/2863)}

G01R 31/2867 ・・・・・・{ハンドラまたは輸送装置、例えばトラクタショベル、キャリア、トレイ}

G01R 31/2868 ・・・・・{完全なテスト位置；システム；手順；ソフトウェア態様}

G01R 31/287 ・・・・・・{手順；ソフトウェア態様}

G01R 31/2872 ・・・・{電気であるか環境態様に関する、例えば温度、湿度、振動、核放射線}

G01R 31/2874 ・・・・・{温度に関する}

G01R 31/2875 ・・・・・・{加熱に関する}

G01R 31/2877 ・・・・・・{冷えることに関する}

G01R 31/2879 ・・・・・{電気態様に関する、例えば電圧または電流供給または刺激にまたは電気的負荷に}

G01R 31/2881 ・・・・・{温度以外の環境態様に関する、例えば湿度または振動}

G01R 31/2882 ・・・{テスト・タイミング特徴}

G01R 31/2884 ・・・{専用の試験コネクタを使用すること、試験中でIC上の素子またはテスト回路を試験する(G01R 31/2855 優位をとる)}

G01R 31/2886 ・・・{試験中でICを接触させることに関する特集、例えばプローブヘッド；チャック(G01R 31/2865 優位（試験接続）をとる例えばテストソケット、または調査それ自体、 G01R 1/04 or G01R 1/06)}

G01R 31/2887 ・・・・{試験の下にプローブヘッドまたはICを動かすことが必要であること；ドッキング・ステーション(可動一つの探測機G01R 1/06705；多数の調査の可動個々の探測機G01R 1/07392)}

G01R 31/2889 ・・・・{インタフェース、例えば調査および検査器間の(G01R 31/31905 and G01R 1/07364 優位をとる)}

G01R 31/2891 ・・・・{検出するかまたは力の中で制御することに関する、位置、温度(G01R 31/2874 優位をとる；力の中で検出することG01L；位置の中で検出することG01B, G01D；温度の中で検出することG01K；一般に制御することG05)}

G01R 31/2893 ・・・{扱うか、伝えるかまたは積むこと、例えばベルト、ボート、真空指(G01R 31/2867 優位をとる；製造または処理の間、半導体装置またはウェーハを扱うことH01L 21/67)}

G01R 31/2894 ・・・{品質管理の態様(QC) (G01R 31/31718 優位をとる；QCのためのプログラム制御G05B 19/41875)}

G01R 31/2896 ・・・{ICパッケージのテスト；試験機能は、ICパッケージに関した(容器それ自体H01L 23/02、カプセル化当然H01L 23/28)}

G01R 31/2898 ・・・{試料調製、例えばカプセル化を取り除くこと、エッチング(試料調製一般にG01N 1/00)}

G01R 31/30 ・・重要でないテスト、例えば変化することは、電圧を供給する(コンピュータの重要でないテストG06)

G01R 31/3004 ・・・{現在のまたは電圧試験}

G01R 31/3008 ・・・・{静止電流[IDDQ}試験または漏れ電流試験]

G01R 31/3012 ・・・・{Built-In-Currentな試験(BIC)}

G01R 31/3016 ・・・{遅延またはレース状態試験、例えばレース危険試験}

G01R 31/302 ・・コンタクトレスのテスト(非連絡をとっている調査G01R 1/07){(G01R 31/04 優位をとる)}

G01R 31/3025 ・・・{DUTを有する無線インタフェース}

G01R 31/303 ・・・集積回路の(G01R 31/305 to G01R 31/315 優位をとる)

G01R 31/304 ・・・印刷であるか複合型回路の(G01R 31/305 to G01R 31/315 優位をとる)

G01R 31/305 ・・・電子ビームを使用すること{(光電効果を測定することによって、調査するかまたは材料を分析することG01N 23/227)}

G01R 31/306 ・・・・印刷であるか複合型回路の

G01R 31/307 ・・・・集積回路の

G01R 31/308 ・・・非イオン化している電磁放射を使用すること、例えば光学的放射{(光学手段の使用によって、調査するかまたは材料を分析することG01N21/00；画像分析G06T 7/00)}

G01R 31/309 ・・・・印刷であるか複合型回路の{または回路基板}

G01R 31/311 ・・・・集積回路の{(G01R 31/31728 優位をとる)}

G01R 31/312 ・・・容量方法によって

G01R 31/315 ・・・帰納的な方法によって

G01R 31/316 ・・アナログ回路のテスト{(G01R 31/2851 優位をとる)}

G01R 31/3161 ・・・重要でないテスト

G01R 31/3163 ・・・機能的なテスト

G01R 31/3167 ・・混合性アナログおよびデジタル回路のテスト{(ADCのを試験することH03M 1/1071)}

G01R 31/317 ・・デジタル回路のテスト{WARNING：次のサブグループのG01R 31/317 進行中の再編成のために完全でない： G01R 31/31702, G01R 31/31708, G01R 31/31711, G01R 31/31717, G01R 31/31718, G01R 31/31728, G01R 31/31901. また見よG01R31/317およびその他のサブグループ}

G01R 31/31701 ・・・{試験中で装置をセットするための準備(UUT)テストモードの}

G01R 31/31702 ・・・{半導体トランジスタ以外の素子を含んでいるテスト・デジタル回路、例えばバイオ素子、ナノ・ファブリック、mems、磁性素子を有するチップ}

G01R 31/31703 ・・・{比較態様、例えば署名分析、コンパレータ(走査試験に関するG01R 31/318566；検査器に関するG01R 31/3193)}

G01R 31/31704 ・・・{試験のための設計；設計確認(走査試験に関するG01R 31/318583；CADG06F 17/50)}

G01R 31/31705 ・・・{デバギング態様、例えばデバギングのためのテスト回路を使用すること、専用のデバギング・テスト回路を使用すること(そのための試験シーケンスの生成G01R 31/31835、そのための走査試験を使用することG01R 31/318544)}

G01R 31/31706 ・・・{差動のディジタル信号を含むこと、例えばテスト差動信号回路、テストへの差動の動機を使用すること}

G01R 31/31707 ・・・{試験戦略(試験シーケンスの生成のための方法G01R 31/318371)}

G01R 31/31708 ・・・{信号品質の分析(G01R 31/31901 優位をとる；頻度を計量するかまたは周波数スペクトルを分析することそれ自体G01R 23/00；当然非線形歪曲を測定することG01R 23/20)}

G01R 31/31709 ・・・・{ジッタ測定値；ジッタ発生器(測定ジッタ、雑音指数またはSN比それ自体G01R 29/26；検査器信号の分析G01R 31/31901)}

G01R 31/3171 ・・・・{BER (Bit Error Rate)試験}

G01R 31/31711 ・・・・{評価方法、例えばshmooプロット線}

G01R 31/31712 ・・・{入力または出力態様}

G01R 31/31713 ・・・・{試験のための入力または出力インターフェース、例えば試験ピン、バッファ(走査試験のためのG01R 31/318572)}

G01R 31/31715 ・・・・{入力または出力回路のテスト、自我/Cピンおよび機能的な核間の回路の試験、例えば入力または出力ドライバのテスト、レシーバ、バッファ}

G01R 31/31716 ・・・・{入力のテストまたはループバックを有する出力}

G01R 31/31717 ・・・・{相互接続テスト(技術が見る走査によってG01R 31/3185S3L)}

G01R 31/31718 ・・・{実際業務の態様、例えば捨てる、選択（試験（検査器/ハンドラ相互作用ネットワーク）中で、装置の中で整理している）は試験する管理ソフトウェア、例えば試験統計または試験評価のためのソフトウェア、分析を与える(機械の態様G01R 31/2808, G01R 31/2851)}

G01R 31/31719 ・・・{セキュリティ態様、例えば試験の間に未許可のアクセスを予防すること}

G01R 31/3172 ・・・{最適化態様、例えば試験ピンとして機能的なピンを使用すること、ピン多重}

G01R 31/31721 ・・・{動力態様、例えばテスト回路のための電源装置、試験の間の電力削減(走査試験のためのG01R 31/318575)}

G01R 31/31722 ・・・{試験装置のアドレス指定またはセレクティング、例えばセレクティングのための伝達プロトコルは、装置を試験する(走査試験のためのG01R 31/318558)}

G01R 31/31723 ・・・{試験される回路に被試験デバイスの範囲内でテスト信号を送るためのハードウェア、例えば多数の中心的なテストのためのマルチプレクサ、内部ノードにアクセスすること(被試験デバイス、へ、あるいは、から、テスト信号を送ることG01R 31/31926)}

G01R 31/31724 ・・・{試験制御器、例えばBIST状態装置(走査試験のためのG01R 31/318555)}

G01R 31/31725 ・・・{タイミング態様、例えば時計配布、それる、伝播遅延(検査器ハードウェアのためのG01R 31/31937)}

G01R 31/31726 ・・・・{同期、例えば試験の、時計またはストローブ信号；異なる時計領域の信号；副尺信号の生成；信号の比較および調整}

G01R 31/31727 ・・・{クロック回路態様、例えば試験クロック回路詳細、信号生成のためのタイミング態様、テスト時計用の回路(G01R 31/31725 優位をとる；走査試験に関するG01R 31/318552、検査器ハードウェアのためのG01R 31/31922)}

G01R 31/31728 ・・・{光学態様、例えばテストのために使用するオプトエレクトロニクス、テスト電子回路用の光学的信号トランスミッション、電子回路と組み合わせて試験される電気光学構成素子、デジタル回路の測定光放射(電気光学素子を有する調査G01R 1/071；オシロスコープのための電気光学サンプリングG01R 13/347；光学手段による個々の半導体装置のコンタクトレスのテストG01R 31/2656)}

G01R 31/3173 ・・・重要でないテスト

G01R 31/3177 ・・・論理演算のテスト、例えば論理アナライザによって

G01R 31/3181 ・・・機能的なテスト(G01R 31/3177 優位をとる)

G01R 31/31813 ・・・・{テストパターン発生器}

G01R 31/31816 ・・・・{ソフトエラー・テスト；柔らかい誤り率評価；一回のイベント・テスト}

G01R 31/3183 ・・・・テスト入力の発生、例えばテストベクトル、パターンまたはシーケンス

G01R 31/318307 ・・・・・{計算機支援、例えば自動試験プログラム・ジェネレータ(ATPG)、プログラム翻訳、試験プログラム・デバギング}

G01R 31/318314 ・・・・・{ツール、例えばプログラム・インタフェース、試験セット、試験ベンチ、シミュレーション・ハードウェア、試験コンパイラ、試験プログラム言語(シミュレーション・ソフトウェア G01R 31/318357; エミュレータG06F11/26S2)}

G01R 31/318321 ・・・・・{組合せ回路のための}

G01R 31/318328 ・・・・・{遅延試験のための}

G01R 31/318335 ・・・・・{テストパターン圧縮または減圧法(走査パターンの圧縮または減圧法G01R 31/318547；圧縮または減圧法ハードウェアG01R 31/31921)}

G01R 31/318342 ・・・・・{予備誤りモデリングによって、例えば分析、シミュレーション}

G01R 31/31835 ・・・・・・{試験報道または失敗きず検出能の分析}

G01R 31/318357 ・・・・・・{シミュレーション(デジタル回路の計算機シミュレーションG06F 17/5009)}

G01R 31/318364 ・・・・・{ハードウェア・シミュレーションの結果として、例えばHDL環境の(回路のコンピュータ支援シミュレーションG06F 17/5009)}

G01R 31/318371 ・・・・・{そのための方法論、例えばアルゴリズム、手順}

G01R 31/318378 ・・・・・{ネットワークに配置される装置の原型の}

G01R 31/318385 ・・・・・{ランダムであるか疑似乱数のテストパターン}

G01R 31/318392 ・・・・・{順序回路のための(G01R 31/318544 prececenceをする)}

G01R 31/3185 ・・・・テストのために変更すること、例えばLSSD、群分離

G01R 31/318502 ・・・・・{組合せ回路の試験}

G01R 31/318505 ・・・・・{モジュール式のシステムの試験、例えばウェーハ、MCMの}

G01R 31/318508 ・・・・・・{板濃度試験、例えばP1500標準(特徴は、境界線走査に関したG01R 31/318533)}

G01R 31/318511 ・・・・・・{Wafer Test}

G01R 31/318513 ・・・・・・{マルチ・チップ-Modulsの試験}

G01R 31/318516 ・・・・・{プログラム可能な論理回路の試験[PLDs}]

G01R 31/318519 ・・・・・・{分野プログラム可能なゲート・アレイの試験(FPGA)}

G01R 31/318522 ・・・・・{順序回路の試験(マイクロプロセッサの試験G06F 11/267P、ALUのの試験G06F 11/267H)}

G01R 31/318525 ・・・・・・{フリップフロップまたはラッチの試験}

G01R 31/318527 ・・・・・・{カウンタの試験}

G01R 31/31853 ・・・・・・{レジスタの試験}

G01R 31/318533 ・・・・・{技術を走査することを使用すること、例えばLSSD、Boundary Scan、JTAG}

G01R 31/318536 ・・・・・・{走査チェーン配置、例えば接続、テストバス、アナログ信号}

G01R 31/318538 ・・・・・・・{位相的であるか機械の態様}

G01R 31/318541 ・・・・・・{走査ラッチまたは細胞詳細}

G01R 31/318544 ・・・・・・{走査法、アルゴリズムおよびパターン(G01R 31/3183 優位をとる)}

G01R 31/318547 ・・・・・・・{データジェネレータまたは圧縮器}

G01R 31/31855 ・・・・・・・{相互接続テスト、例えばクロストーク、短絡する}

G01R 31/318552 ・・・・・・{クロック回路詳細}

G01R 31/318555 ・・・・・・{制御ロジック}

G01R 31/318558 ・・・・・・{被試験デバイスのsubpartsのアドレス指定またはセレクティング}

G01R 31/318561 ・・・・・・・{subpartの識別}

G01R 31/318563 ・・・・・・・{subpartsの多数の同時テスト}

G01R 31/318566 ・・・・・・{コンパレータ；被試験デバイスを診断すること}

G01R 31/318569 ・・・・・・{誤り表示、回路を記録すること}

G01R 31/318572 ・・・・・・{入力/出力インターフェース}

G01R 31/318575 ・・・・・・{出力分布；電力削減}

G01R 31/318577 ・・・・・・{ACテスト、例えば現在のテスト、バーンイン}

G01R 31/31858 ・・・・・・・{遅延テスト}

G01R 31/318583 ・・・・・・{試験のための設計}

G01R 31/318586 ・・・・・・・{部分的な走査または非スキャン可能なパーツを有する}

G01R 31/318588 ・・・・・・・{セキュリティ態様}

G01R 31/318591 ・・・・・・・{ツール}

G01R 31/318594 ・・・・・・{タイミング態様(クロック回路G01R 31/318552)}

G01R 31/318597 ・・・・・・{メモリデバイスのJTAGまたは境界線走査試験(メモリの他の走査テストG11C 29/32)}

G01R 31/3187 ・・・・内蔵型試験

G01R 31/319 ・・・・検査器ハードウェア、すなわち出力処理回路{(ロジック・アナライザG01R 31/3177、メモリ検査器ハードウェアG11C 29/00T)}

G01R 31/31901 ・・・・・{検査器性能の分析；検査器特徴描写}

G01R 31/31903 ・・・・・{検査器構成}

G01R 31/31905 ・・・・・・{被試験デバイス（DUT）を有するインタフェース、例えばテストヘッドおよびDUT間の配置、機械の態様、治具}

G01R 31/31907 ・・・・・・{モジュール式の検査器、例えばバスの計測器を制御して、調整することは、建築の基礎を形成した}

G01R 31/31908 ・・・・・・{検査器セットアップ、例えば検査器を被試験デバイスへ形成すること(DUT)、テストパターンをロードすることの下で}

G01R 31/3191 ・・・・・・・{較正}

G01R 31/31912 ・・・・・・{検査器/ユーザ・インタフェース}

G01R 31/31914 ・・・・・・{Portable Tエステル}

G01R 31/31915 ・・・・・・{In-circuit検査器}

G01R 31/31917 ・・・・・{被試験デバイスに対するテストパターンの刺激生成またはアプリケーション(DUT)}

G01R 31/31919 ・・・・・・{テストパターンを格納して、出力すること(G01R 31/31924 優位をとる；算数およびランダムなテストパターン発生器G06F 11/273G)}

G01R 31/31921 ・・・・・・・{圧縮技術を使用すること、例えばパターン・シーケンサ}

G01R 31/31922 ・・・・・・{タイミング生成または時計配布(G01R 31/3191 優位をとる)}

G01R 31/31924 ・・・・・・{電圧または現在の態様、例えばドライバ、レシーバ}

G01R 31/31926 ・・・・・・{被試験デバイス（DUT）、へ、あるいは、から、工程計画信号、例えばスイッチ・マトリックス、ピン多重}

G01R 31/31928 ・・・・・・{フォーマッタ(ドライバ、レシーバ詳細G01R 31/31924)}

G01R 31/3193 ・・・・・実際の反応および周知の誤り自由な反応の間の比較を有する{(レシーバ詳細31/319S3)}

G01R 31/31932 ・・・・・・{コンパレータ}

G01R 31/31935 ・・・・・・{データを格納すること、例えば失敗メモリ}

G01R 31/31937 ・・・・・・{タイミング態様、例えば測定伝播遅延(G01R 31/3191 そして、G01R 31/31922 優位をとる；重要でないテストG06F 11/24)}

G01R 31/327 ・回路インタラップ装置のテスト、スイッチまたは遮断器(スイッチとの構造上の関連H01H； {入っている開閉装置の欠陥を検出することH02B 13/065；保護回路による切断に加えてモニタリングH02H 3/04})

G01R 31/3271 ・・{高電圧または中程度の電圧装置の(G01R 31/333 優位をとる)}

G01R 31/3272 ・・・{装置、システムまたは回路したがって(G01R 31/3275 優位をとる)}

G01R 31/3274 ・・・・{測定することに関連した詳細、例えば検出するか、示すかまたは計算すること、接触部分に関連した変数の中で測定すること、例えば衣服、位置または抵抗(測定接触抵抗G01R 27/205)}

G01R 31/3275 ・・・{誤り検出またはステータス表示}

G01R 31/3277 ・・{低電圧装置の、例えば国内であるか産業装置、例えばモーター・プロテクション、リレー、回転は、切り替えをする}

G01R 31/3278 ・・・{リレーの、ソレノイドまたはリードスイッチ(測定接触抵抗G01R 27/205；テスト電気ワインディングG01R 31/06；高圧マグネチックスイッチG01R 31/3271, G01R 31/333；フェールセーフ回路のモニタリングH01H 47/002)}

G01R 31/333 ・・高圧遮断器のスイッチング容量のテスト、｛遮断容量または関連した変数で困難である例えばポスト・アーク流または過渡回復電圧}(アークの存在を検出するための手段または切換装置の放出H01H 9/50、33/26)

G01R 31/3333 ・・・{装置、システムまたは回路したがって}

G01R 31/3336 ・・・・{合成テスト、すなわち距離誤り状況をシミュレーションしている別々の電流および電圧発生器を有する}

G01R 31/34 ・テスト機械‐電気の機械(テスト電気ワインディングG01R 31/06 方法または装置は、製造のために特別に適応した、組立て、機械‐電気の機械を維持するかまたは修理することH02K 15/00){アーマチュアのテストまたは機械‐電気の機械の界磁巻線G01R 31/06B}

G01R 31/343 ・・{動作の}

G01R 31/346 ・・{アーマチュアまたは界磁巻線のテスト}

G01R 31/36 ・アキュムレータまたは電気電池の電気条件を試験する装置、例えば容量または充電状態(アキュムレータは、測定するための装置と組み合わさった、状態を試験するかまたは示すことH01M 10/48；給気のための回路配置、または電池を減極すること、または、電池から負荷を供給するためのH02J 7/00; {クーロン・メーターG01R 22/00；時計または腕時計の電源装置の状態を示すことG04C 10/04；制御燃料電池のための方法H01M 8/04298})

　　NOTE - この群は、アキュムレータまたは電気電池の電気状況または変数を測定するか、試験するかまたは示すための準備に適用される。状況または電気であるより、別の変数を測定するか、試験するかまたは示すための状態または準備を測定するか、試験するかまたは示すための装置と結合されるアキュムレータ、例えばレベルまたは電池電解質の密度、グループにおおわれるH01M 10/48 そして、サブグループ

G01R 31/3606 ・・{時間とともにすなわち測定するかまたは連続的にまたは繰り返し若干の変数を決定して、モニタリング例えば電流、電圧、温度、充電の様相[SoC]または健康の状態[SoH] (G01R 31/3627, G01R 31/3644 優位をとる)}

G01R 31/361 ・・・{現在の統合を使用すること}

G01R 31/3613 ・・・・{電圧測定なしで}

G01R 31/3617 ・・・・・{アナログ積分器を使用すること、例えばクーロン-メーター}

G01R 31/362 ・・・{測定電圧だけに基づいて(電圧を参照値と比較することによってG01R 19/16542)}

G01R 31/3624 ・・・{複合電圧および現在の測定に基づいて(G01R 31/361 優位をとる)}

G01R 31/3627 ・・{すなわち若干の変数の昔の決定をして、テスト例えばアンペア時を試験することは、容量を満たす(G01R 31/3644 優位をとる)}

G01R 31/3631 ・・・{試験荷重の使用に基づいて}

G01R 31/3634 ・・・{アンペア時充電能力または充電の様相を決定するための(SoC)(G01R 31/3631 優位をとる)}

G01R 31/3637 ・・・・{電圧測定値に基づいて}

G01R 31/3641 ・・・{製造に関する、例えば製造の後のテスト}

G01R 31/3644 ・・{さまざまな構造上の配置}

G01R 31/3648 ・・・{上記は、デジタル算出手段から成る、例えばアルゴリズムを実行するための}

G01R 31/3651 ・・・・{ソフトウェア態様、例えば電池モデリング、ルックアップ表を使用すること、ニューラル・ネットワーク}

G01R 31/3655 ・・・・{電池またはバッテリパックと結合されているデジタル算出手段}

G01R 31/3658 ・・・{別体セルまたは電池の細胞の群を試験するかまたはモニタするための}

G01R 31/3662 ・・・{内部バッテリ・インピーダンスを測定することが必要であること、コンダクタンスまたは関連した変数}

G01R 31/3665 ・・・{それによって電池のタイプは、主要な強調の中である、例えば電池のタイプを決定すること}

G01R 31/3668 ・・・・{鉛酸蓄電池}

G01R 31/3672 ・・・・{一次電池、すなわち再充電型バッテリでない}

G01R 31/3675 ・・・{温度または老化を補償するための}

G01R 31/3679 ・・・{決定電池加齢または悪化のための、例えば健康の状態(SoH)、生命の様相(ソル)]

G01R 31/3682 ・・・{電気状況または変数を示すための、例えば視覚であるか聞き取れるインジケータ}

G01R 31/3686 ・・・・{電池と結合されているインジケータ}

G01R 31/3689 ・・・・{電池とかけ離れている徴候}

G01R 31/3693 ・・・{臨界機能を実行するために電池の能力を決定するための、例えばクランクを回すこと}

G01R 31/3696 ・・・{電池ポール・コネクタは、測定機能と組み合わさった(電池への接続のための端部分H01R 11/281)}

G01R 31/40 ・テスト電源装置{(電流または電圧をACまたはDC支出の基準レベルと比較することG01R 19/16538)}

G01R 31/405 ・・{太陽電池板電源装置の電気態様の電気テスト(個々の太陽電池のG01R 31/2605)}

G01R 31/42 ・・AC電源{(G01R 31/405 優位をとる)}

G01R 31/44 ・テスト・ランプ(放電ランプG01R 31/24；構造的にランプ故障を検出するための光源回路配置と関係しているH05B 37/03)

G01R 33/00 準備または磁気変数を測定するための器具

G01R 33/0005 ・{磁気センサエレメントの幾何学的な配列；異なる磁気センサ・タイプを結合している装置(G01R 33/0206 優位をとる)}

G01R 33/0011 ・{上記は、手段から成る、例えば磁束に導くかまたは集中するための磁束コンセントレータ（流動ガイド）、例えば磁気センサに}

G01R 33/0017 ・{補償するための手段は、測定されるために磁場または磁束を相殺した；較正磁場を生成するための手段}

G01R 33/0023 ・{電子態様、例えば刺激のための回路、評価、制御；測定された信号を扱うこと；較正(G01R 33/0017 優位をとる)}

G01R 33/0029 ・・{測定された信号を扱うこと、例えばオフセットまたはノイズを取り除くこと}

G01R 33/0035 ・・{一つの磁気センサの較正、例えば統合した較正}

G01R 33/0041 ・・{フィードバックまたは変調技術を使用すること}

G01R 33/0047 ・{磁気センサのハウジングまたは包装(半導体装置の包装H01L 23/00)；保有者}

G01R 33/0052 ・{態様を製造すること、一つの装置の製造、すなわち磁気センサが欠く半導体の(ガルバノ磁気効果に基づく装置等H01L 43/12)}

G01R 33/0058 ・双安定素子を使用すること、例えばリードスイッチ

G01R 33/0064 ・{上記は、シミュレーションを実行するための手段から成る、例えば測定される磁気変数の}

G01R 33/007 ・{環境態様、例えば温度バリエーション、放射線、流れてきた分野(G01R 33/025 優位をとる)}

G01R 33/0076 ・・{保護、例えば流れてきた分野に対するハウジングを有する}

G01R 33/0082 ・・{補償、例えば温度を補償することは、変化する}

G01R 33/0088 ・{双安定であるか切換装置の使用、例えばリードスイッチ}

G01R 33/0094 ・{センサーアレイ}

G01R 33/02 ・磁場または磁束の測定方向または大きさ(G01R 33/20 優位をとる；ナビゲーションまたは測量のための地球の分野の測定方向または大きさG01C；見込みを調べるための、地面の磁場を測定するためのG01V 3/00)

G01R 33/0206 ・・{3-構成素子磁力計}

G01R 33/0213 ・・{磁場によって、荷電粒子の偏差を使用すること}

G01R 33/022 ・・測定勾配

G01R 33/025 ・・補償流れてきた分野{(補償コンパスG01C 17/38)(G01R 33/0017 優位をとる)}

G01R 33/028 ・・電気力学的な磁力計

G01R 33/0283 ・・・{電流か電圧は、いずれにおいて、導体および磁場の相対的な変化のために発生するか}

G01R 33/0286 ・・・{上記は、マイクロ電気機械システムから成る[MEMS}(MEMS装置一般にB81B)]

G01R 33/032 ・・磁気光学装置を使用すること、例えばファラデー、 {綿のムートン効果(磁気光学一般にG02F 1/09)}

G01R 33/0322 ・・・{ファラデーまたはフォークト効果を利用すること}

G01R 33/0325 ・・・{カー効果を使用すること}

G01R 33/0327 ・・・{磁気ひずみのアプリケーションを有する}

G01R 33/035 ・・超電導な装置を使用すること{(超伝導素子の製造H01L 39/00)}

G01R 33/0352 ・・・{超電導磁気抵抗}

G01R 33/0354 ・・・{SQUIDS}

G01R 33/0356 ・・・・{流動フィードバックを有する}

G01R 33/0358 ・・・・{流動をイカに連結すること(傾度測定器コイルG01R 33/022；超電導なワインディングを有するコイルH01F 6/06)}

G01R 33/038 ・・永久磁石を使用すること、例えば釣合い、ねじり装置{電気力学的な磁力計G01R 33/028}

G01R 33/0385 ・・・{磁力測定値との関係の(磁力顕微鏡G01Q 60/50)}

G01R 33/04 ・・フラックスゲート原理を使用すること

G01R 33/045 ・・・{シングルの、またはマルチ開口素子}

G01R 33/05 ・・・薄膜素子で

G01R 33/06 ・・ガルバノ磁気装置を使用すること、例えばホール効果素子；抗磁装置を使用すること{(ガルバノ磁気素子の製造H01L 43/00)}

G01R 33/063 ・・・{マグネト-インピーダンスセンサ；ナノ結晶センサ}

G01R 33/066 ・・・{電界効果磁気センサ、例えば磁気トランジスタ}

G01R 33/07 ・・・ホール効果素子

G01R 33/072 ・・・・{特定のアプリケーションに対するセンサの構造上の適合}

G01R 33/075 ・・・・・{現在の測定値を回転させるために構成されるホール装置}

G01R 33/077 ・・・・{垂直ホール効果素子}

G01R 33/09 ・・・磁気resistive装置

G01R 33/091 ・・・・{特定のアプリケーションに対するセンサの構造上の適合}

G01R 33/093 ・・・・{多層構造を使用すること、例えば巨大な磁気抵抗センサ(細い磁気映画H01F 10/00)}

G01R 33/095 ・・・・{特別な磁気抵抗センサ}

G01R 33/096 ・・・・{異方性の磁気抵抗センサ}

G01R 33/098 ・・・・{上記は、トンネル接合から成る、例えばトンネル磁気抵抗センサ}

G01R 33/10 ・・プロッティング分野配布； {測定分野配布}

G01R 33/12 ・物品の測定磁気特性または固体または体液の標本(MRを含むことG01R 33/20){磁気目装置を使用することG01R 33/032}

G01R 33/1207 ・・{テスト個々の磁気記憶装置例えば記録キャリアまたはデジタル貯蔵素子(機能的なテストG06F 11/00, G06F 11/28)}

G01R 33/1215 ・・{測定磁化；そのための特定の磁力計(G01R 33/14 優位をとる；電気力学的な磁力計G01R 33/028)}

G01R 33/1223 ・・{測定透過性、すなわち透磁率計(G01R 33/14 優位をとる)}

G01R 33/123 ・・{ヒステリシスのための測定損失(G01R 33/14 優位をとる)}

G01R 33/1238 ・・{測定超伝導の特性}

G01R 33/1246 ・・・{測定臨界電流}

G01R 33/1253 ・・{測定ガルバノ磁気特性}

G01R 33/1261 ・・{空中上昇技術を使用すること}

G01R 33/1269 ・・{磁気ビーズについてのラベルがついている分子の(生物学分析のための磁粉G01N 33/54326)}

G01R 33/1276 ・・{磁粉の、例えば磁気ナノ微粒子のイメージング(G01R 33/1269 優位をとる)}

G01R 33/1284 ・・{回転は、測定値を分解した、測定値の間、回転に影響すること、例えばspintronics装置の(G01R 33/093 優位をとる；回転を使用している半導体装置は、キャリアを分極化させたH01L 29/66984)}

G01R 33/1292 ・・{測定領域壁位置または領域壁運動}

G01R 33/14 ・・ヒステリシス・カーブを測定するかまたは記入すること{G01R 33/1207 優位をとる}

G01R 33/16 ・・測定感染性{G01R 33/1238 優位をとる}

G01R 33/18 ・・測定磁気ひずみの特性

G01R 33/20 ・MRを含むこと(医学的な態様A61B 5/055；MR ジャイロメーターG01C 19/00{NMRを使用している材料を調査することG01N 24/00；見込みを調べるかまたはNMRを使用することを検出することG01V 3/00})

G01R 33/24 ・・磁場または磁束の方向または大きさを測定するための

G01R 33/243 ・・・{磁場を分極化させる空間マッピング}

G01R 33/246 ・・・{Ｒｆ磁場の空間マッピングB1}

G01R 33/26 ・・・光励起を使用すること{光励起一般にG01N 24/006}

G01R 33/28 ・・グループの中に提供される装置の詳細G01R 33/44 to G01R 33/64

G01R 33/281 ・・・{生体外造影剤の使用のための手段(G01R 33/282 優位をとる；イメージング氏の造影剤の使用を含むことG01R 33/5601；生体内造影剤A61K 49/0002)}

G01R 33/282 ・・・{特別に過分極のためにまたは過分極化された造影剤のために適応する手段、例えば光学ポンピングセルを使用している過分極化されたガスの発生のための、過分極化された造影剤を格納するためのまたは過分極化された造影剤の分極化の決定のための}

G01R 33/283 ・・・{インターコムまたは光学視聴配置、構造的にNMR装置と関係している}

G01R 33/285 ・・・{観血手段、例えばカテーテルまたは生検針、特別にトラッキングに適している、NMRによる案内することまたは視覚化}

G01R 33/286 ・・・・{介入の計測器の受動的な視覚化を含むこと、すなわち計測器を通常の方法氏の一部として見えるようにすること}

G01R 33/287 ・・・・{介入の計測器の活発な視覚化を含むこと、例えば磁場異質を故意に作成するための作動中のトラッキングＲｆコイルまたはコイルを使用すること}

G01R 33/288 ・・・{mRの間、安全性を強化するための施設氏の範囲内の供給、例えばSARの減少[SAR}、スキャナ室の強磁性目的の検出]

G01R 33/30 ・・・配置を扱っているサンプル、例えば試料セル、機構を回転させること

G01R 33/302 ・・・・{サンプリング少量のための配置を扱っている小型化されたサンプル、例えばflow-throughマイクロ流体NMRチップ}

G01R 33/305 ・・・・{特別に高圧アプリケーションに適している}

G01R 33/307 ・・・・{特別にシステム氏と関連してサンプルを移動することに適している、例えば機構を回転させること、流れ細胞またはスペクトロメータ内部でサンプルを配置するための手段} [

G01R 33/31 ・・・・それの温度制御

G01R 33/32 ・・・励振または検出システム、例えばＲｆ信号を使用すること

G01R 33/323 ・・・・{Ｒｆまたはマイクロ波を用いずにmRの検出、例えば力で発見された

G01R 33/326 ・・・・・{イカを含むこと}

G01R 33/34 ・・・・構造上の詳細、例えば共振器、 {特別にmRに適している(アンテナ一般にH01Q)}

G01R 33/34007 ・・・・・{Ｒｆコイルの製造、例えば印刷回路基板技術を使用すること、Ｒｆコイル組立てに対するまたはそれの一部に対する機械の支持を提供するための追加的なハードウェア、例えばシステム氏の剰余と関連して、コイルアセンブリを動かすことのサポート}

G01R 33/34015 ・・・・・{温度に制御されたＲｆコイル}

G01R 33/34023 ・・・・・・{超伝導Ｒｆコイル}

G01R 33/3403 ・・・・・・{Ｒｆコイルの冷却のための手段、例えば冷蔵庫または冷却容器は、Ｒｆコイルを収容するために特別に適応した}

G01R 33/34038 ・・・・・{Looplessなコイル、すなわち線形導線アンテナ}

G01R 33/34046 ・・・・・{ボリューム・タイプ・コイル、例えば鳥かごコイル；求積鳥かごコイル；円形に極性を与えられたコイル}

G01R 33/34053 ・・・・・・{ソレノイドコイル；トロイダルコイル}

G01R 33/34061 ・・・・・・{ヘルムホルツコイル}

G01R 33/34069 ・・・・・・{くら型コイル}

G01R 33/34076 ・・・・・・{鳥かごコイル}

G01R 33/34084 ・・・・・{幾何学的にサンプルに適応できる移植可能なコイルまたはコイル、例えば相互に可動パーツから成る可撓性コイルまたはコイル}

G01R 33/34092 ・・・・・{Ｒｆコイルは、NMRスペクトロメータのために特別に適応した}

G01R 33/341 ・・・・・上記は、上置コイルから成る

G01R 33/3415 ・・・・・・上記は、副コイルの列から成る、｛すなわちfileipleレシーバ・チャネルを有する段階的な配列コイル}

G01R 33/343 ・・・・・溝付き管またはループ-のすきまタイプの

G01R 33/345 ・・・・・{導波管タイプの(G01R 33/343 優位をとる)}

G01R 33/3453 ・・・・・・{電磁気の横手[TEM}コイル]

G01R 33/3456 ・・・・・・・{ストリップライン共振器}

G01R 33/36 ・・・・電気詳細、例えば合うことまたはレシーバに対するコイルのカップリング

G01R 33/3607 ・・・・・{Ｒｆ波形発生器、例えば周波数生成器、振幅、frequency-または位相変調装置またはシフター、パルス・プログラマ、Ｒｆ信号のためのデジタル−アナログ変換器群、濾過されるかまたはＲｆ信号の中で減るための手段}

G01R 33/3614 ・・・・・{Ｒｆパワー増幅器}

G01R 33/3621 ・・・・・{NMRレシーバまたは復調装置、例えば前置増幅器、デジタル下方変換器を使用している信号氏の周波数変調のための手段、AD変換のための手段[ADC}または信号氏（例えば濾過されている帯域通過）のろ過または処理のための、resamplingすること、多数の人の死亡または展開]

G01R 33/3628 ・・・・・{チューニング/伝送の中で合うこと/コイルを受ける}

G01R 33/3635 ・・・・・・{マルチ頻度動作}

G01R 33/3642 ・・・・・{相互に連結するかまたは多数のコイルの中で分断すること、例えば切り離すの受信する伝達コイルまたはＲｆコイルの意図的な結合から丸くなる例えばＲｆ磁場増幅のための}

G01R 33/365 ・・・・・・{多数のＲｆコイルがmRの同じ機能を有する多数のＲｆコイルの中で分断すること、例えば切り離すの受信する、もう一方からのコイルは、コイルを受ける受信するコイルアレイ、伝達コイルアレイの他の伝達コイルから伝達コイルの中で分断すること}

G01R 33/3657 ・・・・・・{多数のＲｆコイルがmRの同じ機能を有しない多数のＲｆコイルの中で分断すること、例えば伝達の中で分断することは、丸くなる受信するコイル}

G01R 33/3664 ・・・・・{コイル継手または分断すること以外のためのスイッチング、例えば段階的な配列モードおよび求積モード間のスイッチング、異なる幾何学的な形状の上置コイル・モード間のスイッチング、ローカル受付コイルに対する全身受付コイルまたはテーブルmRを移動する際のまたは視界を変えるための自動コイル選択のためのスイッチングからのスイッチング(G01R 33/3671 優位をとる)}

G01R 33/3671 ・・・・・{ＲｆコイルのコイルのＱの変調を含むこと(G01R 33/3642 優位をとる)}

G01R 33/3678 ・・・・・{求積ドライブまたは検出を含むこと、例えば円形に分極化するＲｆ磁場}

G01R 33/3685 ・・・・・{鞘流を減らすための手段、例えばＲｆトラップ、バラン}

G01R 33/3692 ・・・・・{電気伝導接続を使用することのない信号伝達を含むこと、例えばワイヤレスの通信または光通信の

G01R 33/38 ・・・生成のシステム、メインまたは傾斜磁場の均質化または安定化

G01R 33/3802 ・・・・{製造または磁石アセンブリの取付け；輸送または磁石アセンブリの取付けのためのまたは磁石アセンブリの構成素子に対する機械の支持を提供するための追加的なハードウェア}

G01R 33/3804 ・・・・{冷えるための追加的なハードウェアまたは磁石アセンブリの暖房、磁石アセンブリの冷やされるか被加熱部分を収容するためのまたは磁石アセンブリの温度制御のための}

G01R 33/3806 ・・・・{サンプルへの改良されたアクセスのための開いた磁石アセンブリ、例えばC-タイプまたはU-タイプ磁石}

G01R 33/3808 ・・・・{磁石アセンブリが主題だけ一方の側に位置するシングルの面mRのための磁石アセンブリ、内部のアウト氏のための磁石アセンブリ、例えばボーリングした穴のまたは血管のmRのための、または周辺的な分野氏のための磁石アセンブリ}

G01R 33/381 ・・・・リフティングマグネットを使用すること(リフティングマグネットそれ自体H01F 7/06)

G01R 33/3815 ・・・・・超電導コイルを有する、例えばそのための電源装置(超電導な磁石H01F 6/00)

G01R 33/383 ・・・・永久磁石を使用すること(永久磁石それ自体H01F 7/02)

G01R 33/385 ・・・・傾斜磁場コイルを使用すること

G01R 33/3852 ・・・・・{勾配増幅器、サンプルに傾斜磁場のアプリケーションを制御するための手段、例えば勾配信号シンセサイザ}

G01R 33/3854 ・・・・・{活動のための手段、そして、/または勾配磁石コイル・システムの受動的な振動ダンプまたは聴覚のノイズ抑制}

G01R 33/3856 ・・・・・{傾斜磁場コイルを冷やすための手段または傾斜磁場コイルの熱遮へい}

G01R 33/3858 ・・・・・{製造および傾斜磁場コイルの取付け、傾斜コイル機構の一部に対する機械の支持を提供するための手段(インダクタンスまたはコイルの一般に製造H01F 41/00)}

G01R 33/387 ・・・・異質の補償(ふるい分けG01R 33/42)

G01R 33/3873 ・・・・・強磁性体を使用すること； {受動的なシミング}

G01R 33/3875 ・・・・・修正コイルアセンブリを使用すること、例えば作動中のシミング

G01R 33/389 ・・・・分野安定化、｛例えば分野測定値および制御手段によって、または間接的に現在の安定化によって}

G01R 33/42 ・・・ふるい分け(ふるい分け一般にH05K 9/00)

G01R 33/421 ・・・・メインまたは勾配磁場の

G01R 33/4215 ・・・・・{傾斜磁場の、例えば傾斜磁場の受動的であるか作動中の遮へいを使用すること}

G01R 33/422 ・・・・Ｒｆ分野の

G01R 33/44 ・・核磁気共鳴を使用すること[NMR] (G01R 33/24, G01R 33/62 優位をとる)

G01R 33/441 ・・・{Nuclear Quadrupole Resonance(NQR)分光学およびイメージング}

G01R 33/443 ・・・{起電物体または磁場の評価、例えば空間マッピング、B0移動または線量測定の決定}

G01R 33/445 ・・・{非標準の磁場B0を含んでいるmR、例えば地球の磁場に記載のまたはナノテスラ分光学の低い大きさの、上記は、プレ分極化のための分極化している磁場から成る、その大きさの時間的変化または方向（例えばB0の分野循環またはB0の方向の回転）を有するB0、または周辺的な分野氏のまたは流れてきた分野イメージングの空間的に異質なB0同類}

G01R 33/446 ・・・{Multifrequency選択的なＲｆパルス、例えば多核獲得モード(空間的に選択的なＲｆパルスG01R 33/4833)}

G01R 33/448 ・・・{Relaxometry、すなわち緩和時間または回転密度の定量化(G01R 33/50 優位をとる)}

G01R 33/46 ・・・NMRスペクトロスコピー

G01R 33/4608 ・・・・{強化された検出のためのＲｆ励振シーケンス、例えばNOE、分極化転送、一貫性転送経路の選択}

G01R 33/4616 ・・・・{特定のＲｆパルスまたは特定の変調計画を使用すること、例えば確率論的な励振、断熱Ｒｆパルス、合成パルス、二項パルス、Shinnar-le-ルー・パルス、空間選択のために使用されていないスペクトルで選択的なパルス}

G01R 33/4625 ・・・・{獲得した信号の処理、例えば位相エラーの除去、適合している基線、計量化学分析}

G01R 33/4633 ・・・・{多次元NMRのためのシーケンス}

G01R 33/4641 ・・・・{超短波緩和時間（例えば固体のサンプル）を有するサンプルのNMRスペクトロスコピーのためのシーケンス}

G01R 33/465 ・・・・生物学的材料に適用される、例えば生体外テスト

G01R 33/48 ・・・NMR画像処理システム

G01R 33/4802 ・・・・{旅行波氏}

G01R 33/4804 ・・・・{温度またはpHの空間的に選択的な測定}

G01R 33/4806 ・・・・{脳活性化の機能的なイメージング}

G01R 33/4808 ・・・・{多モードmR、例えばmRは、陽電子放出トモグラフィと組み合わさった[PET}、超音波またはmRと結合されるmRは、コンピュータ断層撮影と組み合わさった[CT]]

G01R 33/481 ・・・・・{mRは、陽電子放出トモグラフィと組み合わさった[PET}または単一光子放射形コンピュータ断層撮影[SPECT]]

G01R 33/4812 ・・・・・{mRは、Ｘ線またはコンピュータ断層撮影と組み合わさった[CT}]

G01R 33/4814 ・・・・・{mRは、超音波と組み合わさった}

G01R 33/4816 ・・・・{超短波緩和時間（例えば固体のサンプル）を有するサンプルのNMRイメージング例えば超短波TEを使用しているMRI[UTE}、一回の位置イメージング、恒常的な時間イメージング]

G01R 33/4818 ・・・・{特定のk-スペース軌道に沿ったデータ取得によって、またはk-スペース報道の時間的順序によって、特徴付けられるmR、例えばk-スペースの中心であるか分割された範囲}

G01R 33/482 ・・・・・{デカルトの軌道を使用すること}

G01R 33/4822 ・・・・・・{3つの寸法の}

G01R 33/4824 ・・・・・{非デカルトの軌道を使用すること}

G01R 33/4826 ・・・・・・{3つの寸法の}

G01R 33/4828 ・・・・{異なる化学種の信号氏を分解すること、例えば水-脂肪イメージング}

G01R 33/483 ・・・・信号の選択またはボリュームの特定の領域からのスペクトルを有する、例えば生体内分光学

G01R 33/4831 ・・・・・{B1勾配を使用すること、例えば回転座標技術、上置コイルの使用}

G01R 33/4833 ・・・・・{空間的に興味があるボリュームの選択励起法を使用すること、例えば非直角であるか傾斜した薄片を選ぶこと}

G01R 33/4835 ・・・・・・{多数の薄片の}

G01R 33/4836 ・・・・・・{空間複数の寸法において、空間的に選択的なＲｆパルスを使用すること、例えば2Dペンシルビーム励振パルス}

G01R 33/4838 ・・・・・{信号氏の空間的に選択的な抑制または飽和を使用すること}

G01R 33/485 ・・・・・化学シフト情報基づく｛CSIまたは分光器のイメージング、例えば代謝物質の空間分布を得る}

G01R 33/50 ・・・・緩和時間の決定に基づいて、｛例えばIrシーケンスによるT1測定；多数の反響シーケンスによるT2測定}

G01R 33/54 ・・・・信号処理システム、例えばパルス系列を使用すること、 {生成またはパルス系列の制御(一般にH03K)；オペレータ・コンソール}

G01R 33/543 ・・・・・{システム氏の動作の規制、例えばデータ取得氏の間の、あるいは、それに先行する獲得パラメータの設定、ダイナミックなシミング、走査平面処方のための一つ以上のスカウト・イメージの使用(G01R 33/546 優位をとる)}

G01R 33/546 ・・・・・{システム氏およびユーザの間の接点、例えばシステム氏の動作を制御するためのまたはパルス系列の設計のための}

G01R 33/56 ・・・・・画像強調または修正、例えば減算または加算平均技術、｛例えばSN比および解像度の好転(イメージ・データ処理一般にG06T)}

G01R 33/5601 ・・・・・・{コントラスト操作のための造影剤の使用を含むこと、例えば常磁性体、超常磁性である、強磁性であるか過分極化された造影剤}

G01R 33/5602 ・・・・・・{ろ過またはサンプルの範囲内の異なる緩和時間に基づく加重によって、例えば逆転パルスを使用しているT1加重}

G01R 33/5604 ・・・・・・{顕微鏡検査；ズーミング}

G01R 33/5605 ・・・・・・{もう一方に一貫性または分極化を回転種から移すことによって、例えば磁化を作成することは、対照を転送する[MTC}、核オーバーハウザー強化を使用している分極化転送[NOE]]

G01R 33/5607 ・・・・・・{特定の回転種のNMR信号を減らすことによって、例えば肥沃な抑制のための化学種の、または黒い血液イメージングのための可動回転種の}

G01R 33/5608 ・・・・・・{データ処理および視覚化は、mRのために特別に適応した、例えば測定されたデータ氏を基礎とした特徴分析およびパターン認識のための、測定されたデータ氏の分割、測定されたデータ氏を基礎とした端輪郭検出、ノイズろ過またはアポディゼーションによって、SN比に関して測定されたデータ氏を強化するための、deblurringするための手段によって、解像度に関して測定されたデータ氏を強化するための、ウィンドウ機能、0充填材、または灰色を拡大・縮小されたイメージの生成、ピクセルの代わりに色分けされたイメージまたはイメージ表示ベクトル(イメージ・データ処理または生成、一般にG06T)}

G01R 33/561 ・・・・・・スキャン時間（すなわち速い得ているシステム）の減少によって例えば反響平面パルス系列を使用すること

G01R 33/5611 ・・・・・・・{平行した磁気共鳴イメージング、例えば感度符号化[SENSE}、空間和声学の同時獲得[SMASH]、時間的寸法を使用している重なりのフーリエ符号化によって、unaliasingすること[UNFOLD]、k-t-幅広い使用線形獲得昇速テクニック[k-t-送風]、k-t-感覚(副コイルの列の構造細部G01R 33/3415)]

G01R 33/5612 ・・・・・・・・{平行したＲｆ伝達、すなわち複数の独立伝送チャネルを使用しているＲｆパルス伝達}

G01R 33/5613 ・・・・・・・{定常状態信号を生成すること、例えば低いフリップ角度シーケンス(FLASH)}

G01R 33/5614 ・・・・・・・・{完全にバランスのよい不変の自由な前進を使用する[bSSFP｝パルス系列、例えばtrueFISP]

G01R 33/5615 ・・・・・・・{複数（異なってコード化される）を得ることを含んでいる反響電車技術は、1つのＲｆ励振の後で信号を反響する、例えばエコープラナー法において、再び焦点に集まっている勾配を使用すること[EPI}、緩和強化を有する迅速な獲得において、再び焦点に集まっているＲｆ[RARE]または勾配およびスピンエコー・イメージングにおいて、再び焦点に集まっているＲｆおよび勾配を使用すること[GRASE]]

G01R 33/5616 ・・・・・・・・{再び焦点に集まっている勾配を使用すること、例えばEPI}

G01R 33/5617 ・・・・・・・・{再び焦点に集まっているＲｆを使用すること、例えばRARE}

G01R 33/5618 ・・・・・・・・{再び焦点に集まっているＲｆおよび勾配を使用すること、例えばGRASE}

G01R 33/5619 ・・・・・・・{データの中で時間的に分担することによって、例えば鍵穴、k-スペースのブロック局所の展開計画[BRISK}]

G01R 33/563 ・・・・・・材料を移動する、例えば流れコントラスト血管造影法

G01R 33/56308 ・・・・・・・{運動または流れの特徴描写；ダイナミックなイメージング}

G01R 33/56316 ・・・・・・・・{位相コントラスト技術を含むこと}

G01R 33/56325 ・・・・・・・・映写イメージング

G01R 33/56333 ・・・・・・・・{撮像された領域の中で磁化の空間変調を含むこと、例えば磁化の空間変調[SPAMM}タグを付けること(イメージングが動脈の回転にタグを付けることの基礎をおいたかん流培養G01R 33/56366)]

G01R 33/56341 ・・・・・・・{拡散イメージング}

G01R 33/5635 ・・・・・・・{血管造影法、例えば造影剤増強血管造影法[CE-MRA}または飛行時間型の血管造影法[TOF-MRA]]

G01R 33/56358 ・・・・・・・{Elastography}

G01R 33/56366 ・・・・・・・{かん流培養イメージング}

G01R 33/56375 ・・・・・・・{mRの間のサンプルの意図的な運動、例えば可動テーブル・イメージング}

G01R 33/56383 ・・・・・・・・{全体としてサンプルの運動を含むこと、例えばmultistation

G01R 33/56391 ・・・・・・・・{サンプルの他の一部に関してサンプルの一部の運動を含むこと、例えば活発な共同の運動のMRI}

G01R 33/565 ・・・・・・イメージ歪曲の修正、例えば磁場異質のために

G01R 33/56509 ・・・・・・・{運動、置換または流れのために、例えば勾配瞬間ゼロにする(G01R 33/567 優位をとる)}

G01R 33/56518 ・・・・・・・{渦電流のために、例えば傾斜磁場のスイッチングによって、生じる}

G01R 33/56527 ・・・・・・・{化学シフト効果のために}

G01R 33/56536 ・・・・・・・{磁気感染性バリエーションのために}

G01R 33/56545 ・・・・・・・{有限であるか離散的なサンプリングによって、生じる、例えば電話しているギブズ、打切り人工産物、位相エイリアシング人工産物}

G01R 33/56554 ・・・・・・・{複数を得ることによって、生じて、異なって、コード化された反響は、1つのＲｆ励振の後で信号を送る、例えば極性を中で交替させる読み出し勾配のための修正エピ}

G01R 33/56563 ・・・・・・・{主磁場B0の歪曲によって、生じる、例えば大きさの時間的変化またはB0の空間異質(G01R 33/56509, G01R 33/56518, G01R 33/56536 優位をとる)}

G01R 33/56572 ・・・・・・・{傾斜磁場の歪曲によって、生じる、例えば傾斜磁場の非直線性(G01R 33/56509, G01R 33/56518, G01R 33/56536 優位をとる)}

G01R 33/56581 ・・・・・・・・{マクスウェル分野のために、すなわち付随する分野}

G01R 33/5659 ・・・・・・・{Ｒｆ磁場の歪曲によって、生じる、例えばＲｆ磁場の空間異質(G01R 33/56509, G01R 33/56518, G01R 33/56536 優位をとる)}

G01R 33/567 ・・・・・・生理的信号によって、ゲートで制御する｛すなわち興味があるための周期的な運動をもつ獲得したデータ氏の同期、例えば心臓であるか呼吸ゲートのシステムをモニタするかまたは起動させること}

G01R 33/5673 ・・・・・・・{ゲートまたは起動するは、生理的信号に基づいた

G01R 33/5676 ・・・・・・・{ゲートまたは起動するは、1mR信号に基づいた、例えば運動モニタリングおよび修正のための一つ以上のナビゲータ反響を含むこと}

G01R 33/58 ・・・・画像処理システムの較正、例えばテスト・プローブを使用すること{、模型；較正目的または基準の標識（例えば1mR活物質を囲んでいる作動中であるか受動的なＲｆコイル）}

G01R 33/583 ・・・・・{信号励振または検出システムの較正、例えば最適Ｒｆ励振力または頻度のための(G01R 33/246 優位をとる)}

G01R 33/586 ・・・・・・{Ｒｆパルスの最適フリップ角度のための}

G01R 33/60 ・・電子常磁性共鳴を使用すること(G01R 33/24, G01R 33/62 優位をとる)

G01R 33/62 ・・倍の反響を使用すること(G01R 33/24 優位をとる)

G01R 33/64 ・・サイクロトロン反響を使用すること(G01R 33/24 優位をとる){オメガトロン自体H01J 49/38}

G01R 35/00 試験するかまたは前のグループにより適用されられる装置の中で、調整すること{(G01R 31/31901 優位をとる)}

G01R 35/002 ・{陰極線オシロスコープの}

G01R 35/005 ・{調整すること、標準または参照装置（例えば電圧または抵抗標準）"金色である"参照(G01R 33/0035, G01R 35/002 優位をとる)}

G01R 35/007 ・・{標準または参照装置（例えば電圧または抵抗標準）"金色の参照"}

G01R 35/02 ・補助装置の、例えば処方された変圧比に従う計測器tranformersの、位相角、またはワット数評価

G01R 35/04 ・力または電流の測定時間積分に対する手段の

G01R 35/06 ・・ストロボ法によって

G01R 2019/00 測定電流または電圧のためのまたは存在を示すための準備またはそれの徴候(G01R 5/00 優位をとる； {電子テストが巡回する２次電子放出を使用している電圧測定値G01R 31/305}；測定生物電気電流または電圧のためのA61B 5/04)

G01R 2019/22 ・dcにacの転換を使用すること

G01R 2019/24 ・・サーモカップルを使用すること

G01R 2031/00 電気的な特性を試験するための準備；電気的な誤りの位置を決めるための準備；他の場所で提供されなくて試験されていることによって、特徴付けられる電気テストのための準備(測定リード、測定調査G01R 1/06； {測定超電導な特性G01R 33/1238；テストまたは機能モニタリングのためのデータ処理装置G06F 15/20B}；開閉装置または調速機の保護装置の電気状態を示すことH01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04；製造の間、試験するかまたは半導体または固体装置を測定することH01L 22/00；テスト変電所装置、例えば携帯電話H04M 1/24；テストまたは制御系のモニタリングG05B 23/02； {テストであるか監視送信機またはレシーバH04B 17/00})

G01R 2031/36 ・アキュムレータまたは電気電池の電気条件を試験する装置、例えば容量または充電状態(アキュムレータは、測定するための装置と組み合わさった、状態を試験するかまたは示すことH01M 10/48；給気のための回路配置、または電池を減極すること、または、電池から負荷を供給するためのH02J 7/00; {クーロン・メーターG01R 22/00；時計または腕時計の電源装置の状態を示すことG04C 10/04；制御燃料電池のための方法H01M 8/04298})

　　NOTE - この群は、アキュムレータまたは電気電池の電気状況または変数を測定するか、試験するかまたは示すための準備に適用される。状況または電気であるより、別の変数を測定するか、試験するかまたは示すための状態または準備を測定するか、試験するかまたは示すための装置と結合されるアキュムレータ、例えばレベルまたは電池電解質の密度、グループにおおわれるH01M 10/48 そして、サブグループ

G01R 2031/3603 ・・削除される