WebCPC CPC COOPERATIVE PATENT CLASSIFICATION
G01J 強度の測定、速度、スペクトル内容、分極化、赤外線の位相またはパルス特徴、可視であるか紫外光;色彩測定;放射線高温測定(光源F21、 H01J, H01K, H05B;光学手段によって、材料の特性を調査することG01N)
NOTE - このサブクラスは、赤外線の有無の検出をカバーする、見える、または紫外線光、一方提供されない。G01J 1/00 測光、例えば光学的な露出計(分光測光G01J 3/00;特別に放射線高温測定に適しているG01J 5/00){露出計は、カメラを組み込んだG03B 17/06}
G01J 1/02 ・詳細
G01J 1/0204 ・・{コンパクトな構造}
G01J 1/0209 ・・・{モノリシック仕上げである}
G01J 1/0214 ・・{迷光を取り除くための構造上の配置}
G01J 1/0219 ・・{電気的インタフェース;ユーザ・インタフェース}
G01J 1/0223 ・・{測光のための試料ホルダ}
G01J 1/0228 ・・{働く手順の制御;失敗検出;スペクトル幅算出}
G01J 1/0233 ・・{携帯装置}
G01J 1/0238 ・・{センサ関連のデータを利用すること、例えばセンサまたは光学パーツの識別のための}
G01J 1/0242 ・・{制御またはセンサまたはレシーバの高さまたは角度情報の決定;Goniophotometry}
G01J 1/0247 ・・{帯電ユニットを使用すること}
G01J 1/0252 ・・{生じられる変動を補償するための構造上の配置例えば温度、または装置の部分の冷却または温度安定化を使用すること;光度計内部で空気を制御すること;パージ・システム、クリーナ装置(電磁界干渉からの保護G01J 2001/0276)}
G01J 1/0266 ・・{視界の決定;光度計の狙いをつけることまたは先出し;調節配置;角位置をコード化すること;測定領域の容積;位置トラッキング;単一の探知器のための異なる視野を含んでいるPhotodetection}
G01J 1/0271 ・・{ハウジング;光度計のための付属品またはアクセサリ}
G01J 1/029 ・・{マルチチャネル測光}
G01J 1/0295 ・・{光学雑音のまたは較正を実行するための他のタイプを取り出すための構造上の配置}
G01J 1/04 ・・光学であるかmechnicalな部分{補助調節可能なパーツ}
G01J 1/0403 ・・・{機械式素子;光学エレメント用の支持体;配置を走査すること}
G01J 1/0407 ・・・{一方提供されない光学エレメント、例えば多様体、ウインドウ、ホログラム、格子}
G01J 1/0411 ・・・・{焦点に集まるかまたは素子を視準することを使用すること、すなわちレンズまたは鏡;異常修正}
G01J 1/0414 ・・・・{平面または凸面鏡を使用すること、平行した位相板、または平面ビームスプリッタ}
G01J 1/0418 ・・・・{アテニュエータを使用すること}
G01J 1/0422 ・・・・{軽い選鉱工場を使用すること、収集装置またはコンデンサ}
G01J 1/0425 ・・・・{光ファイバを使用すること}
G01J 1/0429 ・・・・{分極化素子を使用すること}
G01J 1/0433 ・・・・{ノッチフィルタを使用すること}
G01J 1/0437 ・・・・{マスク、アパーチャー・プレート、空間光変調器、空間周波数フィルタを使用すること、例えば反射フィルタ}
G01J 1/044 ・・・・{シャッタを使用すること}
G01J 1/0444 ・・・・{素子をもう一方と取り替えるための手段を使用すること、例えばフィルタを交換するかまたは軋るための}
G01J 1/0448 ・・・・{調節可能な、例えば焦点に集まること}
G01J 1/0451 ・・・・{能率的に切れ込みを照らすための手段を使用すること、例えば光度計の入口スリットまたは繊維の入口表面}
G01J 1/0455 ・・・・{光学エレメントが追加的な光学的機能を成し遂げることを可能にしているthroughholeを有すること、例えば集まっている光または光ファイバを注入している光のための通り穴を有する鏡または格子}
G01J 1/0459 ・・・・{光学結合を改善するために光またはコーティングの光増幅器を使用すること}
G01J 1/0462 ・・・・{切り開かれた配置}
G01J 1/0466 ・・・・{観察ポートを有する}
G01J 1/047 ・・・・{拡張を使用すること/固体または流体の展開、反響する頻度または絶滅結果の変化}
G01J 1/0474 ・・・・{ディフューザ(空腔G01J 2001/0481)}
G01J 1/0477 ・・・・{プリズム、楔}
G01J 1/0488 ・・・{スペクトルろ過を有する}
G01J 1/0492 ・・・・{少なくとも2つの異なるフィルタを使用すること}
G01J 1/06 ・・・入射角光を制限すること
G01J 1/08 ・・光源の配列は、測光のために特別に適応した{標準線源、発光であるか放射性材料をまた、使用すること}
G01J 1/10 ・参照光または電気的な値と比較すると{仮に無効である}
G01J 1/12 ・・まったく視覚の手段を使用すること(G01J 1/20 優位をとる)
G01J 1/122 ・・・{photographicalな記録または複製すること際の接源時間を決定するための視覚の露出計}
G01J 1/124 ・・・・{比較を有する測定された光の強度の比較に基づいて、ソースまたは比較は、表層を照らした}
G01J 1/126 ・・・・・{装置を大きくするための}
G01J 1/128 ・・・・・{copy-またはプリンタ装置のための}
G01J 1/14 ・・・段階的な明るさの表層を有する比較を使用すること、{例えば図取得のための;分析的アプリケーションのためのG01N 21/293}
G01J 1/16 ・・電気放射線検出器を使用すること(G01J 1/20 優位をとる)
G01J 1/1626 ・・・{2台の光センサとの取り決め、いずれが比較されるか、信号}
G01J 1/18 ・・・参照電気的な値を有する比較を使用すること
G01J 1/20 ・・探知器でそれらの効果を等しくするために多様になっている測定されたか参照値の強度、例えば入射角を変化させることによって
G01J 1/22 ・・・光路の可変素子を使用すること、例えばフィルタ、手段に極性を与えること(G01J 1/34 優位をとる)
G01J 1/24 ・・・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 1/26 ・・・・・測定されたか参照値の自動の変化のために構成される(光度の調節G05D 25/00)
G01J 1/28 ・・・強度の変化またはソースの距離を使用すること(G01J 1/34 優位をとる)
G01J 1/30 ・・・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 1/32 ・・・・・測定されたか参照値の自動の変化のために構成される(光度の調節G05D 25/00)
G01J 1/34 ・・・交替にまたは順番に使用する別々の光路を使用すること、例えば明滅する
G01J 1/36 ・・・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 1/38 ・まったく視覚の手段を使用すること(G01J 1/10 優位をとる)
G01J 1/40 ・・制限または可視性または絶滅効果を利用すること
G01J 1/42 ・電気放射線検出器を使用すること(光学であるか機械の部分G01J 1/04;参照光または電気的な値と比較するとG01J 1/10)
G01J 1/4204 ・・{環境照明の決定を有する(太陽光G01J 2001/4266)}
G01J 1/4209 ・・{記録または複製すること際の接源時間を決定するための光電露光計}
G01J 1/4214 ・・・{特別に図をとっている装置に適している}
G01J 1/4219 ・・・{特別に引き伸ばし機に適している}
G01J 1/4223 ・・・{特別にコピーに適している−またはプリンタ装置}
G01J 1/4228 ・・{2台以上の探知器との取り決め、例えば感度補償のための}
G01J 1/4257 ・・{光線の特徴をモニタすることに適用される、例えばレーザー光線、前照灯光線(レーザーのための一般に監視配置H01S 3/0014)}
G01J 1/429 ・・{紫外線光の測定に適用される(計数管を使用することG01T)}
G01J 1/44 ・・電気回路{露出パートの命令のためのG03B 7/02}
G01J 1/46 ・・・コンデンサを使用すること
G01J 1/48 ・化学効果を利用すること
G01J 1/50 ・・インジケータの変退色を使用すること、例えば光量計
G01J 1/52 ・・光学的な効果を利用すること
G01J 1/54 ・・ガスの間で光化学反応を観察することによって
G01J 1/56 ・放射圧または放射測定器効果を利用すること
G01J 1/58 ・光によって、発生する発光を使用すること
G01J 1/60 ・目の瞳孔を測定することによって
G01J 3/00 分光分析;分光測光;モノクロメータ;測定色
G01J 3/02 ・詳細
G01J 3/0202 ・・{機械式素子;光学エレメント用の支持体}
G01J 3/0205 ・・{一方提供されない光学エレメントe、例えば光学多様体、ディフューザ、ウインドウ}
G01J 3/0208 ・・・{焦点に集まるかまたは素子を視準することを使用すること、例えばレンズまたは鏡;異常修正を実行すること}
G01J 3/021 ・・・{平面または凸面鏡を使用すること、平行した位相板、または特定の反射器}
G01J 3/0213 ・・・{アテニュエータを使用すること}
G01J 3/0216 ・・・{軽い選鉱工場または収集装置を使用する、または、コンデンサ}
G01J 3/0218 ・・・{光ファイバを使用すること}
G01J 3/0221 ・・・・{切り開かれる入力を定めている繊維}
G01J 3/0224 ・・・{極性を持つかまたは素子を減極することを使用すること}
G01J 3/0227 ・・・{ノッチフィルタを使用すること}
G01J 3/0229 ・・・{マスク、アパーチャー・プレート、空間光変調器または空間周波数フィルタを使用すること、例えば反射フィルタ}
G01J 3/0232 ・・・{シャッタを使用すること}
G01J 3/0235 ・・・{素子をもう一方と取り替えるための手段を使用すること、フィルタまたは格子を交換するための}
G01J 3/0237 ・・・{調節可能な、例えば焦点に集まること}
G01J 3/024 ・・・{能率的に切れ込みを照らすための手段を使用する(例えばスペクトロメータの入口スリットまたは繊維の入口表面)}
G01J 3/0243 ・・・{光学エレメントが追加的な光学的機能を成し遂げることを可能にしている通り穴を有すること、例えば集まっている光または光ファイバを吹き込んでいる光のためのthroughholeを有する鏡または格子}
G01J 3/0245 ・・・{光の光増幅器を使用すること、例えばドーピングした繊維}
G01J 3/0248 ・・・{観察ポートを使用すること、例えばカメラまたは人間の目}
G01J 3/0251 ・・・{積分球を利用している色彩計}
G01J 3/0254 ・・・{スペクトロメータ、色彩計以外の、積分球を利用すること}
G01J 3/0256 ・・{コンパクトな構造}
G01J 3/0259 ・・・{モノリシック仕上げである}
G01J 3/0262 ・・{迷光を取り除くための構造上の配置}
G01J 3/0264 ・・{電気的インタフェース;ユーザ・インタフェース}
G01J 3/0267 ・・{色彩測定のための試料ホルダ}
G01J 3/027 ・・{スペクトロメータの働く手順の制御;失敗検出;バンド幅算出}
G01J 3/0272 ・・{携帯装置}
G01J 3/0275 ・・{センサ関連のデータ(e)を利用すること、例えばセンサ・パーツまたは光学エレメントの識別のための}
G01J 3/0278 ・・{制御またはセンサまたはレシーバのための高さまたは角度情報の決定}
G01J 3/0283 ・・{帯電ユニットを使用すること}
G01J 3/0286 ・・{温度、湿度または圧力によって、生じる変動を補償するかまたは装置の部分の冷却または温度安定化を使用するための構造上の配置、スペクトロメータ内部で空気を制御すること、例えば真空}
G01J 3/0289 ・・{視界の決定;スペクトロメータの狙いをつけることまたは先出し;調節配置;角位置をコード化すること;測定領域の容積;位置トラッキング}
G01J 3/0291 ・・{ハウジング、スペクトロメータ・アクセサリ、素子の空間配置、例えば折られた経路配置}
G01J 3/0294 ・・{マルチチャネル分光学}
G01J 3/0297 ・・{光学雑音のまたは較正を実行するための他のタイプを取り出すための構造上の配置}
G01J 3/04 ・・切り開かれた配置{切り開かれた調整}
G01J 3/06 ・・配置を走査すること{順序-選択のための準備}
G01J 3/08 ・・配置を切替えている光線
G01J 3/10 ・・光源の配列は、分光分析または色彩測定のために特別に適応した
G01J 3/108 ・・・{赤外線レンジの測定のための}
G01J 3/12 ・スペクトルを生成すること;モノクロメータ
G01J 3/1256 ・・{音響光学調整できるフィルタを使用すること; (音響光学素子またはシステムG02F 1/11, G02F 1/33)}
G01J 3/14 ・・素子を屈折させることを使用すること、例えばプリズム(G01J 3/18, G01J 3/26 優位をとる){プリズムそれ自体G02B 5/04}
G01J 3/16 ・・・オートコリメーションを有する
G01J 3/18 ・・回折素子を使用すること、例えば軋ること(格子それ自体G02B)
G01J 3/1804 ・・・{平面格子}
G01J 3/1809 ・・・{エシェル格子}
G01J 3/1833 ・・・{発生率をすること}
G01J 3/1838 ・・・{ホログラフィック回折格子}
G01J 3/189 ・・・{離れて平らな構成の少なくとも一つの格子を使用すること}
G01J 3/1895 ・・・{ブラッグ格子または格子が導波管において、統合した繊維を使用すること}
G01J 3/20 ・・・ローランド円スペクトロメータ
G01J 3/22 ・・・Littrowは、スペクトロメータを反映させる
警告 - 材料仮に中でG01J 3/18G01J 3/24 ・・・特定の命令を支持するために側面図を作られる格子を使用すること
G01J 3/26 ・・多数の反射を使用すること、例えばファブリー-ペロー干渉計、可変干渉フィルタ
G01J 3/28 ・スペクトルを調査すること(波長フィルタを使用することG01J 3/51)
G01J 3/2803 ・・{光電アレー検出器を使用すること}
G01J 3/2823 ・・{イメージング・スペクトロメータ}
G01J 3/2846 ・・{変調ネットワークを使用すること;格子スペクトロメータ}
G01J 3/2889 ・・{急速な走査スペクトロメータ;時間は、分光分析を解決した}
G01J 3/30 ・・直接スペクトル線のスペクトル上の強度を計量すること(G01J 3/42, G01J 3/44 優位をとる)
G01J 3/32 ・・・単一の探知器によって、シーケンスのスペクトルのバンドを調査すること
G01J 3/36 ・・・別々の探知器によって、スペクトルの2つ以上のバンドを調査すること
G01J 3/40 ・・スペクトルの写真の密度を決定することによって、スペクトル線の強度を計量すること;分光写真術(G01J 3/42, G01J 3/44 優位をとる)
G01J 3/42 ・・吸収分光分析;複光束方式分光分析;明滅分光分析;反射分光分析(配置を切替えている光線G01J 3/08)
G01J 3/427 ・・・二重波長分光分析
G01J 3/433 ・・・変調分光分析;微分分光法
G01J 3/4338 ・・・・{頻度は、分光分析を調整した}
G01J 3/44 ・・ラマン分光法;分光分析を散乱させること; {蛍光分光分析法}
G01J 3/4406 ・・・{蛍光分光分析法}
G01J 3/4412 ・・・{分光分析を散乱させること(光散乱による分子のり付けG01N 15/0205;分子の光学velocimetryG01P 5/00D)}
G01J 3/443 ・・放出分光分析
G01J 3/447 ・・分極化分光分析
G01J 3/45 ・・Interferometric分光分析
G01J 3/453 ・・・振幅の相互関係によって
G01J 3/4531 ・・・・{動く部分のない装置}
G01J 3/4532 ・・・・{コンパクトであるか対称形の構造の装置(G01J 3/4531 優位をとる)}
G01J 3/4535 ・・・・{可動鏡を有する装置(G01J 3/4532 優位をとる)}
G01J 3/4537 ・・・・{屈折走査を有する装置}
G01J 3/457 ・・相互関係分光分析、例えば強度の(G01J 3/453 優位をとる)
G01J 3/46 ・色の測定、色測定装置、例えば色彩計(測定色温度G01J 5/60)
G01J 3/461 ・・{カラー紡績機を有する}
G01J 3/462 ・・{色スペースのまたは間のコンピューティング動作;色管理システム}
G01J 3/463 ・・{色合せ}
G01J 3/465 ・・{目の色知覚を考慮に入れること;tristimulus検出を使用すること}
G01J 3/50 ・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 3/501 ・・・{スペクトルで選択的な光源を使用している色彩計、例えばLED}
G01J 3/502 ・・・{分散的な素子を使用すること、例えば軋ること、プリズム}
G01J 3/504 ・・・{Goniometricは、測定値を色づける、例えば金属的または剥片ベースの塗料の寸法}
G01J 3/505 ・・・{スクリーン以外の照明器具によって、生じられる色を測定すること、モニタ、ディスプレイまたはCRT}
G01J 3/506 ・・・{スクリーンによって、生じられる色を測定すること、モニタ、ディスプレイまたはCRT}
G01J 3/508 ・・・{歯の色を測定すること}
G01J 3/51 ・・・波長フィルタを使用すること
G01J 3/513 ・・・・{固定フィルタ-探知器一組を有する}
G01J 3/52 ・・カラーチャートを使用すること
G01J 3/522 ・・・{円形のカラーチャート}
G01J 3/524 ・・・{色彩計の較正}
G01J 3/526 ・・・{異なる色の組合せを選択するための、例えば看者のための気持ちの良い効果を発生する}
G01J 3/528 ・・・・{色調和論を使用すること}
G01J 4/00 光の測定分極化(極性を与えられた照明の平面の回転を測定することによって、調査するかまたは材料を分析することG01N 21/21)
G01J 4/02 ・分離された分野タイプの旋光計;半分-陰タイプの旋光計
G01J 4/04 ・電気検出手段を使用している旋光計(G01J 4/02 優位をとる)
G01J 5/00 放射線高温測定(測光一般にG01J 1/00;分光分析一般にG01J 3/00){測定温度一般に、すなわち接触センサを有するG01K;放射線ビームの熱量測定G01K 17/00;光を放つソースのための方向探知器G01S;放射線による侵入検出G08B}
G01J 5/0003 ・{サンプルの光を放つ熱伝達を検出するための、例えば放射率メートル}
G01J 5/0007 ・・{ウェーハまたは半導体基板の、例えば迅速な熱処理を使用すること}
G01J 5/0011 ・・{耳温度計(G01J 5/021 そして、G01J 5/049 優位をとる)}
G01J 5/0014 ・{ガスから放射線を検出するための、炎}
G01J 5/0018 ・・{炎、プラズマまたは溶接}
G01J 5/0022 ・{運動体の放射線を検出するための}
G01J 5/0025 ・・{生きた体(耳温度計G01J 5/0011;検出すること、診断目的のための測定することまたは記録A61B5)}
G01J 5/0037 ・{液体により発される熱を検出するための}
G01J 5/004 ・・{溶融金属によって}
G01J 5/0044 ・{炉、オーブン、窯(G01J 5/0007, G01J 5/004 優位をとる)}
G01J 5/0066 ・{ホットスポット検出のための}
G01J 5/007 ・{土壌診察のための}
G01J 5/0088 ・{タービンの}
G01J 5/0096 ・{導線を測定するための、電気的接点または電子装置}
G01J 5/02 ・詳細
G01J 5/0205 ・・{機械式素子;光学エレメント用の支持体}
G01J 5/021 ・・{温度計用のプローブカバー、例えば鼓膜温度計;プローブカバー用の容器;使い捨ての探測機}
G01J 5/0215 ・・{コンパクトな構造}
G01J 5/022 ・・・{モノリシック仕上げである}
G01J 5/0225 ・・{空腔のまたは空腔を含まれるかまたはサスペンドされる素子の様子}
G01J 5/023 ・・・{特定の脚構造または構造、または、形状;ナノチューブ}
G01J 5/0235 ・・・{スペーサ、例えばスティクションの回避のための}
G01J 5/024 ・・・{ステップまたは犠牲的層を製造しているスペシャルまたは層状構造}
G01J 5/0245 ・・・{熱短絡を実行するための}
G01J 5/025 ・・{外部素子またはネットワークに高温計との入出力を行うこと;ユーザ・インタフェース}
G01J 5/0255 ・・{高温測定のための試料ホルダ;サンプルの清掃(ガス・パージを使用することG01J 5/029)}
G01J 5/026 ・・{高温計の働く手順の制御、較正以外の(較正 G01J 2005/0048 そして、G01J 5/522);高温計の中で機能する際の失敗を検出すること;バンド幅算出;ゲイン調整器;セキュリティ制御}
G01J 5/0265 ・・{携帯装置、ポータブル(耳温度計G01J 5/049)}
G01J 5/027 ・・{センサ関連のデータを利用すること、例えばセンサ・パーツまたは光学エレメントの識別のための}
G01J 5/0275 ・・{制御またはセンサまたはレシーバのための高さまたは距離または角度情報の決定}
G01J 5/028 ・・{帯電ユニットまたは電池を使用すること}
G01J 5/0285 ・・{湿度によって、生じる変動を補償するための構造上の配置、圧力または電磁波;高温計内部で空気を制御すること(G01J 5/029 優位をとる)}
G01J 5/029 ・・{ガス・パージを使用すること}
G01J 5/0295 ・・{装置または絶対の検出をゼロにすること}
G01J 5/04 ・・ケース{実装}
G01J 5/041 ・・・{エンクロージャのまたは特定の環境の実装}
G01J 5/042 ・・・・{高温環境(G01J 5/0007, G01J 5/0044, G01J 5/0088 そして、G01J 5/004 優位をとる)}
G01J 5/043 ・・・・{防止または塵の決定、スモッグまたは切りくず詰まり(G01J 5/029 優位をとる)}
G01J 5/044 ・・・・{強い振動またはショックを有する環境}
G01J 5/045 ・・・・{シーリング;真空エンクロージャ;カプセル化されたパッケージ;構造を結合しているウェーハ;ゲッタ配置(ゲッタ準備それ自体H01L 23/26 そして、H01L 31/0203B)}
G01J 5/046 ・・・{材料;熱材料の選択}
G01J 5/047 ・・・{増えているモービル;配置を走査すること}
G01J 5/048 ・・・{保護パーツ}
G01J 5/049 ・・・{鼓膜温度計用のケース}
G01J 5/06 ・・放射線を妨げる効果を除去するための準備
G01J 5/061 ・・・{冷却を使用するかまたは装置の部分の中でthermostatingすること(一般に技術を冷やすことF17C, F25J)}
G01J 5/08 ・・光学特徴{optical-mechanicalなスキャンH04N 5/33, G02B 26/10}
G01J 5/0803 ・・・{一方提供されない光学エレメント、例えば光学多様体、格子、ホログラム、立方のビームスプリッタ、プリズム、特定のコーティング}
G01J 5/0806 ・・・・{焦点に集まるかまたは素子を視準することを使用すること、例えばレンズまたは鏡}
G01J 5/0809 ・・・・{平面または凸面鏡を使用すること、平行した位相板または特定の反射器}
G01J 5/0812 ・・・・{アテニュエータを使用すること}
G01J 5/0815 ・・・・{軽い選鉱工場を使用すること、収集装置またはコンデンサ}
G01J 5/0818 ・・・・{導波管を使用すること、ロッドまたは管}
G01J 5/0821 ・・・・・{光ファイバを使用すること}
G01J 5/0825 ・・・・{偏光素子を使用すること}
G01J 5/0828 ・・・・{ノッチフィルタを使用すること}
G01J 5/0831 ・・・・{マスクを使用すること、例えばアパーチャー・プレートを使用するか、または空間光変調器または空間周波数フィルタを使用して、構造開口例えば反射フィルタ}
G01J 5/0834 ・・・・{シャッタまたは変調装置を使用すること}
G01J 5/0837 ・・・・{マイクロ・アンテナを使用すること、例えば蝶ネクタイ}
G01J 5/084 ・・・・{調節可能である、摺動可能である}
G01J 5/0843 ・・・・・{手動で調節可能である}
G01J 5/0846 ・・・・{異なる種類の検出を実行するための多数の探知器を使用すること、例えば放射測定および反射率測定チャネル}
G01J 5/085 ・・・・{光学エレメントが追加的な光学的機能を成し遂げることを可能にしているthroughholeを有すること、例えば集まっている光または光ファイバを吹き込んでいる光のためのthroughholeを有する鏡または格子}
G01J 5/0853 ・・・・{ボロメータのように赤外線検出器に置かれる通常の吸収装置層以外の赤外線吸収装置を使用すること、そこにおいて、吸収装置および検出器間の熱普及は、固体の範囲内で起こる}
G01J 5/0856 ・・・・{切り開かれた配置}
G01J 5/0859 ・・・・{観察装置を使用すること、または同じ目的のためのカメラ}
G01J 5/0862 ・・・・{光学フィルタを使用すること(G01J 5/602, G01J 5/0828 優位をとる)}
G01J 5/0865 ・・・・{素子をもう一方と取り替えるための手段を使用すること、例えばフィルタを交換するための}
G01J 5/0868 ・・・・{能率的に切れ込みまたは表層を照らすための手段を使用すること、例えば高温計の入口スリットまたは繊維の入口表面}
G01J 5/0871 ・・・・{配置を切替えている光線;単一の探知器のための異なる視野を含んでいるPhotodetection}
G01J 5/0875 ・・・・{窓またはそれらの固定配置}
G01J 5/0878 ・・・・{ディフューザ}
G01J 5/0881 ・・・{コンパクトな構造}
G01J 5/0884 ・・・・{モノリシック仕上げである}
G01J 5/0887 ・・・{黒体を模倣している空腔を統合すること、そこにおいて、黒体および測定素子間の熱普及は、固体の範囲内で起こらない、ガスの温度の測定のための流体ストリームに入れられる本体の使用、表層からの再発行の使用、例えば反射面;多数の感想によるふく射率強化}
G01J 5/089 ・・・{視界の決定;高温計の狙いをつけることまたは先出し;調節配置;角位置をコード化すること;有効面の容積;位置トラッキング}
G01J 5/0893 ・・・{すなわち光インタフェースを取り付けて、装置を高温計に取り付ける配置、光学エレメントの空間相対的な配置、例えば折られた光路(G01J 5/049 優位をとる)}
G01J 5/0896 ・・・{光源を使用すること、例えば表層を照らすための}
G01J 5/10 ・電気放射線検出器を使用すること
G01J 5/12 ・・熱電気素子を使用すること、例えばサーモカップル(熱電気素子それ自体H01L 35/00, H01L 37/00)
G01J 5/14 ・・・電気機能
G01J 5/16 ・・・・冷たい接合に関する準備;環境温または他の変数の補償影響
G01J 5/18 ・・・・指示することまたは記録のための特別な適合(一般に示すかまたは測定値を記録することG01D)
G01J 5/20 ・・レジスタを使用すること、サーミスタ、または放射線に影響される半導体
G01J 5/22 ・・・電気機能
G01J 5/24 ・・・・特別に構成される回路の使用、例えばブリッジ回路
G01J 5/26 ・・・・指示することまたは記録のための特別な適合(一般に示すかまたは測定値を記録することG01D)
G01J 5/28 ・・使用しているフォト放射する、光導電である、または光電池
G01J 5/30 ・・・電気機能
G01J 5/32 ・・・・指示することまたは記録のための特別な適合(一般に示すかまたは測定値を記録することG01D)
G01J 5/34 ・・コンデンサを使用する{例えば焦電素子}
G01J 5/36 ・・ガスのイオン化を使用すること
G01J 5/38 ・固体または流体の拡張または展開を使用すること
G01J 5/40 ・・二種の金属からなる素子を使用すること
G01J 5/42 ・・Golay細胞を使用すること
G01J 5/44 ・・反響する頻度の変更を使用すること、例えばピエゾ電気結晶の
G01J 5/46 ・放射圧または放射測定器効果を利用すること
G01J 5/48 ・まったく視覚の手段を使用すること
G01J 5/50 ・サブグループの技術指定のを下で使用すること
G01J 5/505 ・・{光学的な記録を使用すること}
G01J 5/52 ・・基準線源を有する比較を使用すること、例えば消えるフィラメント高温計
G01J 5/522 ・・・{基準線源、例えばフロアスタンド;黒体}
G01J 5/524 ・・・{放射する表層タイプの参照ヒーターを使用すること、例えば選択的に吸収材料のための}
G01J 5/54 ・・・光学特徴
G01J 5/56 ・・・電気機能
G01J 5/58 ・・吸収を使用すること;分極化を使用すること;絶滅効果を利用すること
G01J 5/60 ・・色温度の決定を使用すること{濾過されている2つの波長を使用している高温測定;使用している選択的である、モノクロのまたは帯域通過ろ過;スペクトル・スキャンを使用すること}
G01J 5/601 ・・・{スペクトル・スキャンを使用すること}
G01J 5/602 ・・・{使用している選択的である、モノクロのまたは帯域通過ろ過}
G01J 5/605 ・・・{視覚の判定を使用すること}
G01J 5/62 ・・光を切るための手段を使用すること{チョッパー素子のバックグラウンド放射線の補償}
G01J 7/00 測定光速
G01J 9/00 測定光学位相差(光線の位相を制御するための装置または配置G02F 1/01);決定コヒーレンス度;測定光学波長(分光分析G01J 3/00)
G01J 9/02 ・interferometricな方法によって(光学的に目的の長さ寸法を測定するための干渉計を使用することG01B 9/02)
G01J 9/0215 ・・{interferometricな方法をせん断することによって}
G01J 9/0246 ・・{測定光学波長}
G01J 9/04 ・異なる頻度の以外同じ出所の2つの波を打って、得られたより低い頻度の位相シフトを測定することによって
G01J 11/00 個々の光学パルスのまたは光学パルストレインの特徴を測定すること
G01J 2001/00 測光、例えば光学的な露出計(分光測光G01J 3/00;特別に放射線高温測定に適しているG01J 5/00){露出計は、カメラを組み込んだG03B 17/06}
G01J 2001/02 ・詳細
G01J 2001/0257 ・・ポータブル
G01J 2001/0261 ・・・ポケット・サイズ;カード・サイズ
G01J 2001/0276 ・・保護
G01J 2001/028 ・・・液体に対して
G01J 2001/0285 ・・・レーザ損傷特性に対して
G01J 2001/04 ・・光学であるかmechnicalな部分{補助調節可能なパーツ}
G01J 2001/0481 ・・・予め設定された積分球または空腔
G01J 2001/0485 ・・・光センサの角度反応を修正しているかまたは故意に修正しているCosinus
G01J 2001/0488 ・・・{スペクトルろ過を有する}
G01J 2001/0496 ・・・・繊維ブラッグ格子を使用すること
G01J 2001/06 ・・・入射角光を制限すること
G01J 2001/061 ・・・・じゃま板
G01J 2001/062 ・・・・光ファイバ包装された束によって
G01J 2001/063 ・・・・選択可能な視界を有する
G01J 2001/065 ・・・・・変更素子によって
G01J 2001/066 ・・・・・狙いをつけている光デバイスを有する
G01J 2001/067 ・・・・角度走査のための
G01J 2001/068 ・・・・・隔膜等によって
G01J 2001/08 ・・光源の配列は、測光のために特別に適応した{標準線源、発光であるか放射性材料をまた、使用すること}
G01J 2001/083 ・・・探知器のテスト反応
G01J 2001/086 ・・・移動修正を調整すること
G01J 2001/10 ・参照光または電気的な値と比較すると{仮に無効である}
G01J 2001/16 ・・電気放射線検出器を使用すること(G01J 1/20 優位をとる)
G01J 2001/1605 ・・・零位法
G01J 2001/161 ・・・対比法、すなわちIm/Ir
G01J 2001/1615 ・・・・違い/合計比率を計算すること、すなわち (Im(Ir))/(Im + Ir)
G01J 2001/1621 ・・・・パルスのデューティレシオを比較すること
G01J 2001/1626 ・・・{2台の光センサとの取り決め、いずれが比較されるか、信号}
G01J 2001/1631 ・・・・ブリッジ回路
G01J 2001/1636 ・・・・直接ソースをモニタしている1台の探知器、例えばまた、時、制御することに衝撃を与える
G01J 2001/1642 ・・・・・そして、検出回路に作用すること
G01J 2001/1647 ・・・・一定に保たれる1つの信号
G01J 2001/1652 ・・・・他のものの前に透明な1台の探知器
G01J 2001/1657 ・・・・スペクトルで修正されている1つの信号、例えばUVのための
G01J 2001/1663 ・・・・異なる感度の2台の探知器
G01J 2001/1668 ・・・遅れずに変化して測定信号、例えば周期的である、例えば血液波動
G01J 2001/1673 ・・・参照サンプルを使用すること
G01J 2001/1678 ・・・時間分離された信号を比較すること、すなわち切られる
G01J 2001/1684 ・・・・そして、また、信号からDCレベルを選ぶこと
G01J 2001/1689 ・・・・異なって処理されている1つの分離された信号
G01J 2001/1694 ・・・・信号を有するから上の/切替えられた光源から
G01J 2001/18 ・・・参照電気的な値を有する比較を使用すること
G01J 2001/182 ・・・・SHサンプル及びホールド回路を有する
G01J 2001/184 ・・・・・信号の継承上の
G01J 2001/186 ・・・・処理回路の範囲内の電気的なソースからの比較または修正
G01J 2001/188 ・・・・・パルストレイン上の
G01J 2001/20 ・・探知器でそれらの効果を等しくするために多様になっている測定されたか参照値の強度、例えば入射角を変化させることによって
G01J 2001/22 ・・・光路の可変素子を使用すること、例えばフィルタ、手段に極性を与えること(G01J 1/34 優位をとる)
G01J 2001/24 ・・・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 2001/242 ・・・・・フィルタホイール、すなわち吸収フィルタ連続は、卒業した
G01J 2001/245 ・・・・・2つ以上の別々の減らされたステップを有する
G01J 2001/247 ・・・・・スペクトル楔タイプの
G01J 2001/34 ・・・交替にまたは順番に使用する別々の光路を使用すること、例えば明滅する
G01J 2001/36 ・・・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 2001/363 ・・・・・チョッパー安定化
G01J 2001/366 ・・・・・2本の経路を釣り合わせること
G01J 2001/42 ・電気放射線検出器を使用すること(光学であるか機械の部分G01J 1/04;参照光または電気的な値と比較するとG01J 1/10)
G01J 2001/4228 ・・{2台以上の探知器との取り決め、例えば感度補償のための}
G01J 2001/4233 ・・・探知器の選択を有する
G01J 2001/4238 ・・鼓動された光
G01J 2001/4242 ・・調整された光、例えばソースおよび検出回路に同期させるための
G01J 2001/4247 ・・テスト・ランプまたは他の光源のための
G01J 2001/4252 ・・・LEDのを試験するための
G01J 2001/4257 ・・{光線の特徴をモニタすることに適用される、例えばレーザー光線、前照灯光線(レーザーのための一般に監視配置H01S 3/0014)}
G01J 2001/4261 ・・・光線による光線の断面側面図を得るために走査
G01J 2001/4266 ・・太陽光を測定するための
G01J 2001/4271 ・・・Pyrrheliometer
G01J 2001/4276 ・・・太陽エネルギー積算器時間とともに
G01J 2001/428 ・・・気圧によって、点在する日光のための
G01J 2001/4285 ・・・Pyranometer、すなわちスペースを通じて一体化すること
G01J 2001/4295 ・・他のサブグループにより適用されられない物理的な効果を利用することG01J 1/42
G01J 2001/44 ・・電気回路{露出パートの命令のためのG03B 7/02}
G01J 2001/4406 ・・・回路の複数の範囲、例えばスイッチで切り替え可能な範囲;感度セレクティングを調整することは、値を得る
G01J 2001/4413 ・・・活字
G01J 2001/442 ・・・・計数している単一光子検出または光子
G01J 2001/4426 ・・・・頻度に対する強度または頻度転換[IFCまたはVFC]に対する電圧を有する
G01J 2001/4433 ・・・・ピークに検出すること
G01J 2001/444 ・・・補償すること、調整すること、例えば暗電流、温度ドリフト、ノイズリダクションまたは基線修正;調整されること
G01J 2001/4446 ・・・探知器のタイプ
G01J 2001/4453 ・・・・PMT
G01J 2001/446 ・・・・フォトダイオード
G01J 2001/4466 ・・・・・雪崩
G01J 2001/4473 ・・・・フォトトランジスタ
G01J 2001/448 ・・・・配列(CCD)
G01J 2001/4486 ・・・・線条管
G01J 2001/4493 ・・・・イメージintensifyer管を有する(IIT)
G01J 2003/00 分光分析;分光測光;モノクロメータ;測定色
G01J 2003/003 ・2つの光源のスペクトルを比較すること
G01J 2003/006 ・ファンダメンタルズまたは総説
G01J 2003/02 ・詳細
G01J 2003/0281 ・・slitlessである
G01J 2003/04 ・・切り開かれた配置{切り開かれた調整}
G01J 2003/042 ・・・切り開かれた車輪
G01J 2003/045 ・・・連続した切れ込み;多数の切れ込み
G01J 2003/047 ・・・2つ以上の入力の構成または予め定められたデルタ-ラムダのための出口スリット
G01J 2003/06 ・・配置を走査すること{順序-選択のための準備}
G01J 2003/061 ・・・機構、例えばサイン棒
G01J 2003/062 ・・・モーターで動く
G01J 2003/063 ・・・・ステップ・モーター
G01J 2003/064 ・・・走査のための他の素子の使用、例えば鏡、固定格子
G01J 2003/065 ・・・・スペクトル走査のための繊維走査の使用
G01J 2003/066 ・・・機能のマイクロプロセッサ制御、例えば切り開かれる、走査、走査の間のバンド幅
G01J 2003/067 ・・・平面平行プレートの使用、例えば小さい走査、揺れる
G01J 2003/068 ・・・予め選択された波長に同調する
G01J 2003/069 ・・・複合の運動、例えば軋ることおよび修正翻訳の回転
G01J 2003/10 ・・光源の配列は、分光分析または色彩測定のために特別に適応した
G01J 2003/102 ・・・複数のソース
G01J 2003/104 ・・・・モノクロの複数のソース
G01J 2003/106 ・・・・交替するか選択可能な2つのソース、例えば2台のレンジまたは線の:連続体
G01J 2003/12 ・スペクトルを生成すること;モノクロメータ
G01J 2003/1204 ・・軋ることおよびフィルタ
G01J 2003/1208 ・・プリズムおよび軋る
G01J 2003/1213 ・・フィルタ一般に、例えば二色性である、バンド
G01J 2003/1217 ・・・インデックスを付けられた離散的なフィルタまたはチョッパー
G01J 2003/1221 ・・・取付け;調整
G01J 2003/1226 ・・干渉フィルタ
G01J 2003/123 ・・・インデックスを付けられた離散的なフィルタ
G01J 2003/1234 ・・・連続的に可変もしも(CVIF);楔タイプ
G01J 2003/1239 ・・・そして、別々の探知器
G01J 2003/1243 ・・・枢支しているもしもまたは他の位置変化
G01J 2003/1247 ・・・チューニング
G01J 2003/1252 ・・・使用することにより"反響細胞"、例えばNa蒸気
G01J 2003/126 ・・焦点隔離タイプ
G01J 2003/1265 ・・遅れずに切り離されている波長、例えば光ファイバ配列による
G01J 2003/1269 ・・電気光学フィルタ
G01J 2003/1273 ・・順序選択
G01J 2003/1278 ・・スペクトル選択を有するマスク
G01J 2003/1282 ・・スペクトル仕立職
G01J 2003/1286 ・・ポリクロメータ一般に
G01J 2003/1291 ・・極性を与えられる、複屈折である
G01J 2003/1295 ・・複数入力切れ込み、例えば異なる発生率のための
G01J 2003/14 ・・素子を屈折させることを使用すること、例えばプリズム(G01J 3/18, G01J 3/26 優位をとる){プリズムそれ自体G02B 5/04}
G01J 2003/145 ・・・まっすぐな図のプリズム・システム
G01J 2003/18 ・・回折素子を使用すること、例えば軋ること(格子それ自体G02B)
G01J 2003/1814 ・・・ダブルモノクロメータ
G01J 2003/1819 ・・・・複光路方式モノクロメータ
G01J 2003/1823 ・・・・substractiveである
G01J 2003/1828 ・・・順序ソータまたは前置フィルタを有する
G01J 2003/1842 ・・・軋ることのタイプ
G01J 2003/1847 ・・・・可変的な間隔
G01J 2003/1852 ・・・・円筒状表層
G01J 2003/1857 ・・・・環状体面
G01J 2003/1861 ・・・・伝達格子
G01J 2003/1866 ・・・3つ以上の波長のためのモノクロメータ
G01J 2003/1871 ・・・・Duochromator
G01J 2003/1876 ・・・・ポリクロメータ
G01J 2003/188 ・・・恒常的な偏差
G01J 2003/1885 ・・・交換可能な格子用ホルダー、例えば波長の異なる範囲で
G01J 2003/26 ・・多数の反射を使用すること、例えばファブリー-ペロー干渉計、可変干渉フィルタ
G01J 2003/262 ・・・複光路方式;多数のパス
G01J 2003/265 ・・・読み出される、例えばポリクロメータ
G01J 2003/267 ・・・シサム・タイプの
G01J 2003/28 ・スペクトルを調査すること(波長フィルタを使用することG01J 3/51)
G01J 2003/2803 ・・{光電アレー検出器を使用すること}
G01J 2003/2806 ・・・配列およびフィルタ配列
G01J 2003/2809 ・・・・配列および修正フィルタ
G01J 2003/2813 ・・・2D-配列
G01J 2003/2816 ・・・半導体積層体層
G01J 2003/282 ・・・修正されたCCDまたは同類
G01J 2003/2823 ・・{イメージング・スペクトロメータ}
G01J 2003/2826 ・・・多スペクトル感応性のイメージング、例えばフィルタ・イメージング
G01J 2003/283 ・・computer-interfacedされる
G01J 2003/2833 ・・・そして、記憶されたスペクトル収集
G01J 2003/2836 ・・・プログラム装置、すなわちソースおよび日付処理
G01J 2003/284 ・・・スペクトル構造
G01J 2003/2843 ・・・干渉するスペクトルを除去するための処理
G01J 2003/2846 ・・{変調ネットワークを使用すること;格子スペクトロメータ}
G01J 2003/285 ・・・アダマール変換
G01J 2003/2853 ・・加算平均連続した走査または表示
G01J 2003/2856 ・・・そして、標準偏差の算出
G01J 2003/2859 ・・スペクトルにおいて、検出しているピーク
G01J 2003/2863 ・・・そして、算出ピーク面積
G01J 2003/2866 ・・標識;走査の中で調整すること
G01J 2003/2869 ・・・背景修正
G01J 2003/2873 ・・・参照スペクトルを格納すること
G01J 2003/2876 ・・・信号の修正直線性
G01J 2003/2879 ・・・走査を調整すること、例えばファブリー・ペロー干渉計
G01J 2003/2883 ・・・重なっている修正
G01J 2003/2886 ・・間欠的なスペクトルを調査すること
G01J 2003/2889 ・・{急速な走査スペクトロメータ;時間は、分光分析を解決した}
G01J 2003/2893 ・・・回転格子を有する
G01J 2003/2896 ・・ビジコン、イメージ増強管
G01J 2003/30 ・・直接スペクトル線のスペクトル上の強度を計量すること(G01J 3/42, G01J 3/44 優位をとる)
G01J 2003/32 ・・・単一の探知器によって、シーケンスのスペクトルのバンドを調査すること
G01J 2003/323 ・・・・比較線:背景
G01J 2003/326 ・・・・マスク、皿、チョッパーを走査すること、例えば小さいスペクトル間隔
G01J 2003/42 ・・吸収分光分析;複光束方式分光分析;明滅分光分析;反射分光分析(配置を切替えている光線G01J 3/08)
G01J 2003/421 ・・・単光束方式
G01J 2003/423 ・・・レーザーを使用しているスペクトル配置、例えば調整できる
G01J 2003/425 ・・・拡散反射率
G01J 2003/427 ・・・二重波長分光分析
G01J 2003/4275 ・・・・極性を与えられた二重波長分光分析
G01J 2003/433 ・・・変調分光分析;微分分光法
G01J 2003/4332 ・・・・頻繁を調整された
G01J 2003/4334 ・・・・ソースの変調によって、例えば現在の変調
G01J 2003/4336 ・・・・磁気変調によって、例えばゼーマン効果
G01J 2003/44 ・・ラマン分光法;分光分析を散乱させること; {蛍光分光分析法}
G01J 2003/4412 ・・・{分光分析を散乱させること(光散乱による分子のり付けG01N 15/0205;分子の光学velocimetryG01P 5/00D)}
G01J 2003/4418 ・・・・パワースペクトル
G01J 2003/4424 ・・・ラマン分光法のための蛍光修正
G01J 2003/443 ・・放出分光分析
G01J 2003/4435 ・・・2本の線の測定比率、例えば内部標準
G01J 2003/45 ・・Interferometric分光分析
G01J 2003/451 ・・・分散的なinterferometricな分光分析
G01J 2003/452 ・・・スペクトル変換のイメージの記録を有する、例えばホログラム
G01J 2003/453 ・・・振幅の相互関係によって
G01J 2003/4534 ・・・・明らかにする側上の干渉計
G01J 2003/4538 ・・・・特別な処理
G01J 2003/46 ・色の測定、色測定装置、例えば色彩計(測定色温度G01J 5/60)
G01J 2003/466 ・・符号化色;予め定められた色の認識;付近を予め定められた色に向かわせること
G01J 2003/467 ・・色コンピューティング
G01J 2003/468 ・・蛍光薬品を含んでいるための
G01J 2003/50 ・・電気放射線検出器を使用すること
G01J 2003/503 ・・・Densitometricは、測定値を色づける
G01J 2003/507 ・・・物理的に選択的な探知器
G01J 2003/51 ・・・波長フィルタを使用すること
G01J 2003/513 ・・・・{固定フィルタ-探知器一組を有する}
G01J 2003/516 ・・・・・積み重なるいくつかのフィルタまたは積み重なるフィルタ-探知器一組を有する
G01J 2004/00 光の測定分極化(極性を与えられた照明の平面の回転を測定することによって、調査するかまたは材料を分析することG01N 21/21)
G01J 2004/001 ・装置
G01J 2004/002 ・・セレクティング分極化方向
G01J 2004/004 ・・・逐次的な、すなわち時間を分けられた
G01J 2004/005 ・・・同時の、すなわちスペースを分けられた
G01J 2004/007 ・・・機械取付け
G01J 2004/008 ・分極化率
G01J 2005/00 放射線高温測定(測光一般にG01J 1/00;分光分析一般にG01J 3/00){測定温度一般に、すなわち接触センサを有するG01K;放射線ビームの熱量測定G01K 17/00;光を放つソースのための方向探知器G01S;放射線による侵入検出G08B}
G01J 2005/0022 ・{運動体の放射線を検出するための}
G01J 2005/0029 ・・シート
G01J 2005/0033 ・・車輪
G01J 2005/0048 ・調整すること;修正
G01J 2005/0051 ・・ふく射率のための修正のための方法
G01J 2005/0055 ・・大気の修正
G01J 2005/0059 ・・エミッタ放射線の反射のための修正
G01J 2005/0062 ・・回路を線形にすること
G01J 2005/0074 ・ふく射率の別々の検出を有する
G01J 2005/0077 ・イメージング
G01J 2005/0081 ・サーモグラフィ
G01J 2005/0085 ・・温度プロフィール
G01J 2005/0092 ・加算平均による温度、例えば走査によって(space-を目的とする走査は、判定を分解したG01J 2005/0081)
G01J 2005/02 ・詳細
G01J 2005/06 ・・放射線を妨げる効果を除去するための準備
G01J 2005/061 ・・・{冷却を使用するかまたは装置の部分の中でthermostatingすること(一般に技術を冷やすことF17C, F25J)}
G01J 2005/062 ・・・・ペルティエ
G01J 2005/063 ・・・・加熱;Thermostating
G01J 2005/065 ・・・遮へいによって
G01J 2005/066 ・・・差動装置、すなわち感度が高い/感度が高くない
G01J 2005/067 ・・・環境パラメータを補償すること
G01J 2005/068 ・・・・周辺温度センサ;収容テンパレチャセンサ
G01J 2005/10 ・電気放射線検出器を使用すること
G01J 2005/103 ・・吸収被加熱金属板またはフィルムおよび温度探知器
G01J 2005/106 ・・配列
G01J 2005/12 ・・熱電気素子を使用すること、例えばサーモカップル(熱電気素子それ自体H01L 35/00, H01L 37/00)
G01J 2005/123 ・・・熱電気配列
G01J 2005/126 ・・・熱電気黒板およびサーモカップル
G01J 2005/20 ・・レジスタを使用すること、サーミスタ、または放射線に影響される半導体
G01J 2005/202 ・・・配列
G01J 2005/204 ・・・・半導体処理により準備される、例えばVLSI
G01J 2005/206 ・・・箔上の
G01J 2005/208 ・・・超電導である
G01J 2005/28 ・・使用しているフォト放射する、光導電である、または光電池
G01J 2005/283 ・・・配列
G01J 2005/286 ・・・・そのための導体の配列
G01J 2005/34 ・・コンデンサを使用する{例えば焦電素子}
G01J 2005/345 ・・・配列
G01J 2005/38 ・固体または流体の拡張または展開を使用すること
G01J 2005/42 ・・Golay細胞を使用すること
G01J 2005/425 ・・・マイクロ配列
G01J 2005/50 ・サブグループの技術指定のを下で使用すること
G01J 2005/52 ・・基準線源を有する比較を使用すること、例えば消えるフィラメント高温計
G01J 2005/526 ・・・放射する表層の定期的な挿入
G01J 2005/528 ・・・定期的な比較
G01J 2005/58 ・・吸収を使用すること;分極化を使用すること;絶滅効果を利用すること
G01J 2005/583 ・・・干渉、すなわち温度を有する周辺的な変化
G01J 2005/586 ・・・分極化
G01J 2005/60 ・・色温度の決定を使用すること{濾過されている2つの波長を使用している高温測定;使用している選択的である、モノクロのまたは帯域通過ろ過;スペクトル・スキャンを使用すること}
G01J 2005/602 ・・・{使用している選択的である、モノクロのまたは帯域通過ろ過}
G01J 2005/604 ・・・・帯域通過は、濾過された
G01J 2005/607 ・・・2台の別々の探知器上の
G01J 2005/608 ・・・ランプの色温度、soruces等
G01J 2005/62 ・・光を切るための手段を使用すること{チョッパー素子のバックグラウンド放射線の補償}
G01J 2005/623 ・・・チョッパーの補償放射線
G01J 2005/626 ・・・電気光学チョッパー
G01J 2009/00 測定光学位相差(光線の位相を制御するための装置または配置G02F 1/01);決定コヒーレンス度;測定光学波長(分光分析G01J 3/00)
G01J 2009/002 ・波面位相配布
G01J 2009/004 ・モードパターン
G01J 2009/006 ・物理的な測定値のためのパルスを使用すること
G01J 2009/008 ・・空腔の腐食時間を使用すること
G01J 2009/02 ・interferometricな方法によって(光学的に目的の長さ寸法を測定するための干渉計を使用することG01B 9/02)
G01J 2009/0203 ・・光線の段階的な配列
G01J 2009/0207 ・・二倍の頻度、例えばゼーマン
G01J 2009/0211 ・・一貫性を測定するための
G01J 2009/0215 ・・{interferometricな方法をせん断することによって}
G01J 2009/0219 ・・・2つ以上の格子を使用すること
G01J 2009/0223 ・・一般の経路干渉分光法;位置回折干渉分光法
G01J 2009/0226 ・・繊維
G01J 2009/023 ・・・統合した光学タイプの
G01J 2009/0234 ・・干渉縞パターンの測定
G01J 2009/0238 ・・・光学的に処理されているパターン、例えばフーリエ変換によって
G01J 2009/0242 ・・コンペンセータ
G01J 2009/0249 ・・変調を有する
G01J 2009/0253 ・・・波長の
G01J 2009/0257 ・・倍数、例えばファブリー・ペロー干渉計
G01J 2009/0261 ・・極性を与えられる
G01J 2009/0265 ・・・位相変調を有する
G01J 2009/0269 ・・顕微鏡タイプ
G01J 2009/0273 ・・リング干渉計
G01J 2009/0276 ・・星の干渉計、例えばサニャク
G01J 2009/028 ・・タイプ
G01J 2009/0284 ・・・マイケルソン
G01J 2009/0288 ・・・Machzehnder
G01J 2009/0292 ・・・フィゾー;楔
G01J 2009/0296 ・・・無色である
G01J 2011/00 個々の光学パルスのまたは光学パルストレインの特徴を測定すること
G01J 2011/005 ・ストリークカメラ
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